| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-19页 |
| ·论文研究背景 | 第9-10页 |
| ·LTE概述 | 第10-18页 |
| ·LTE背景介绍 | 第10-11页 |
| ·LTE系统目标和需求 | 第11-13页 |
| ·LTE系统网络结构和核心技术 | 第13-14页 |
| ·LTE上行物理信道 | 第14-15页 |
| ·LTE上行帧结构 | 第15-18页 |
| ·论文主要工作安排 | 第18-19页 |
| 第二章 LTE系统随机接入过程的研究 | 第19-41页 |
| ·LTE系统随机接入的基本概念 | 第19-20页 |
| ·同步和异步随机接入 | 第19页 |
| ·随机接入的作用 | 第19-20页 |
| ·LTE系统随机接入物理层过程 | 第20-27页 |
| ·竞争模式的随机接入 | 第22-26页 |
| ·非竞争模式的随机接入 | 第26页 |
| ·MAC层过程 | 第26-27页 |
| ·LTE系统随机接入前导结构 | 第27-32页 |
| ·前导序列的格式 | 第27-29页 |
| ·随机接入的时频结构 | 第29-32页 |
| ·LTE系统随机接入前导序列设计 | 第32-39页 |
| ·ZadOff-chu序列 | 第32-35页 |
| ·前导序列产生 | 第35-37页 |
| ·基带信号产生 | 第37-39页 |
| ·本章小结 | 第39-41页 |
| 第三章 LTE系统随机接入检测算法性能仿真 | 第41-55页 |
| ·性能仿真平台设计 | 第41-46页 |
| ·发端平台UE_Tx:前导生成及发送 | 第41-43页 |
| ·收端平台eNB_Rx:前导检测 | 第43-45页 |
| ·性能测试模块设计 | 第45-46页 |
| ·性能测试结果与分析 | 第46-55页 |
| ·虚警概率的仿真 | 第46-47页 |
| ·AWGN信道单天线接收的性能 | 第47-50页 |
| ·ETU70信道单天线接收的性能 | 第50-52页 |
| ·ETU70信道双天线接收性能 | 第52-55页 |
| 第四章 开发平台及开发工具介绍 | 第55-67页 |
| ·picoArray架构 | 第55-59页 |
| ·picoTools功能 | 第59-62页 |
| ·PC203芯片特性 | 第62-63页 |
| ·CPE7203集成开发板 | 第63-66页 |
| ·本章小结 | 第66-67页 |
| 第五章 LTE随机接入接收机在picoArray上的实现 | 第67-93页 |
| ·LTE手机测试仪整体结构 | 第67页 |
| ·基带开发流程 | 第67-69页 |
| ·LTE随机接入链路开发整体设计 | 第69-81页 |
| ·随机接入链路整体结构设计 | 第69-70页 |
| ·时间同步 | 第70-72页 |
| ·单用户检测的算法 | 第72-76页 |
| ·多用户检测的算法 | 第76-79页 |
| ·随机接入链路吞吐分析 | 第79-81页 |
| ·LTE随机接入链路开发具体实现 | 第81-89页 |
| ·整体结构框图 | 第81-83页 |
| ·主要模块介绍 | 第83-86页 |
| ·硬件测试 | 第86-89页 |
| ·LTE手机测试仪随机接入链路AE使用情况及功能验证 | 第89-91页 |
| ·LTE手机测试仪随机接入链路AE使用情况 | 第89-90页 |
| ·LTE手机测试仪随机接入链路功能验证 | 第90-91页 |
| ·本章小结 | 第91-93页 |
| 第六章 结束语 | 第93-95页 |
| ·论文工作总结 | 第93页 |
| ·论文进一步研究方向 | 第93-95页 |
| 缩略语 | 第95-97页 |
| 参考文献 | 第97-99页 |
| 致谢 | 第99-101页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文 | 第101页 |