摘要 | 第4-5页 |
Abstract | 第5-6页 |
1 绪论 | 第10-17页 |
1.1 课题研究背景和意义 | 第10-11页 |
1.2 国内外研究现状 | 第11-14页 |
1.2.1 高速DAC发展现状 | 第11-12页 |
1.2.2 高速DAC测试技术研究现状 | 第12-13页 |
1.2.3 虚拟仪器技术研究现状 | 第13-14页 |
1.3 本文研究内容及章节安排 | 第14-17页 |
1.3.1 课题来源及研究内容 | 第14-15页 |
1.3.2 本文结构安排 | 第15-17页 |
2 高速DAC测试基础与虚拟仪器技术基础 | 第17-28页 |
2.1 高速DAC测试理论基础 | 第17-23页 |
2.1.1 D/A转换器基本原理 | 第17-18页 |
2.1.2 DAC典型结构 | 第18-20页 |
2.1.3 DAC特性参数及测试方法 | 第20-23页 |
2.2 虚拟仪器技术基础 | 第23-27页 |
2.2.1 虚拟仪器概念和特点 | 第23-26页 |
2.2.2 虚拟仪器技术软硬件组成 | 第26-27页 |
2.3 本章小结 | 第27-28页 |
3 基于虚拟仪器的高速DAC测试控制算法研究 | 第28-50页 |
3.1 虚拟仪器软件开发平台 | 第28-30页 |
3.2 高速DAC测试顺序控制过程问题描述 | 第30-32页 |
3.3 基于粒计算的顺序控制算法思路 | 第32-36页 |
3.3.1 高速DAC测试关键节点粒化 | 第33-35页 |
3.3.2 利用改进K近邻聚类算法对参数计算结果分类 | 第35-36页 |
3.4 基于粒计算的顺序控制算法设计 | 第36-41页 |
3.4.1 高速DAC测试的粒计算分层结构 | 第36-38页 |
3.4.2 K近邻聚类算法的改进策略 | 第38-40页 |
3.4.3 基于加权粒度的K近邻聚类算法 | 第40-41页 |
3.5 基于虚拟仪器的粒计算顺序控制算法实现与验证 | 第41-49页 |
3.5.1 算法实现 | 第41-44页 |
3.5.2 实验及分析 | 第44-49页 |
3.6 本章小结 | 第49-50页 |
4 基于虚拟仪器的高速DAC测试参数计算方法研究 | 第50-61页 |
4.1 静态参数优化计算方法 | 第50-54页 |
4.1.1 高速DAC静态误差分析 | 第50-52页 |
4.1.2 静态测试输入码选择方法 | 第52-53页 |
4.1.3 主过渡态测试取反码选择方法 | 第53-54页 |
4.2 动态参数优化计算方法 | 第54-58页 |
4.2.1 高速DAC动态参数频域计算方法 | 第54-56页 |
4.2.2 SINAD三参数正弦波最小二乘拟合法 | 第56-58页 |
4.3 基于虚拟仪器的参数测试计算程序 | 第58-59页 |
4.4 本章小结 | 第59-61页 |
5 基于虚拟仪器的高速DAC测试系统软硬件设计 | 第61-84页 |
5.1 高速DAC测试系统总体设计方案 | 第61-64页 |
5.2 测试板硬件电路设计 | 第64-67页 |
5.2.1 高速DAC主芯片电路 | 第65页 |
5.2.2 电源及时钟电路 | 第65-66页 |
5.2.3 采集放大电路 | 第66页 |
5.2.4 测试板硬件电路原理图 | 第66-67页 |
5.3 高速测试板PCB设计 | 第67-75页 |
5.3.1 层叠结构设计 | 第68页 |
5.3.2 信号完整性设计 | 第68-71页 |
5.3.3 电源完整性设计 | 第71-74页 |
5.3.4 高速测试板PCB制版文件 | 第74-75页 |
5.4 高速DAC测试系统软件设计 | 第75-83页 |
5.4.1 生产者消费者架构 | 第76-77页 |
5.4.2 用户登录与用户管理程序模块 | 第77-80页 |
5.4.3 主测试程序模块 | 第80-82页 |
5.4.4 数据存储模块 | 第82-83页 |
5.5 本章小结 | 第83-84页 |
6 实验测试与分析 | 第84-93页 |
6.1 实验环境与测试方案 | 第84-85页 |
6.2 静态参数测试实验 | 第85-88页 |
6.3 动态参数测试实验 | 第88-91页 |
6.4 参数测试结果分类实验 | 第91-92页 |
6.5 本章小结 | 第92-93页 |
结论 | 第93-95页 |
致谢 | 第95-96页 |
参考文献 | 第96-101页 |
攻读硕士学位期间发表的学术论文及科研成果 | 第101页 |