| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第11-21页 |
| 1.1 课题研究背景及意义 | 第11-12页 |
| 1.2 铸坯表面温度场测量技术研究现状 | 第12-18页 |
| 1.2.1 表面温度测量技术研究现状 | 第12-13页 |
| 1.2.2 CCD辐射测温技术研究现状 | 第13-17页 |
| 1.2.3 铸坯表面测温技术研究现状 | 第17-18页 |
| 1.3 课题研究内容 | 第18-21页 |
| 第2章 基于CCD的辐射测温模型 | 第21-35页 |
| 2.1 基于CCD的辐射测温机理 | 第21-27页 |
| 2.1.1 面阵CCD工作原理 | 第21-23页 |
| 2.1.2 辐射测温的理论基础 | 第23-25页 |
| 2.1.3 基于CCD的辐射测温原理 | 第25-27页 |
| 2.2 基于CCD的辐射测温机理模型 | 第27-33页 |
| 2.2.1 单光谱测温机理模型 | 第27-30页 |
| 2.2.2 双光谱测温机理模型 | 第30-31页 |
| 2.2.3 三光谱测温机理模型 | 第31-33页 |
| 2.3 本章小结 | 第33-35页 |
| 第3章 单CCD多光谱测温仪的光学系统设计 | 第35-45页 |
| 3.1 测温仪整体改造方案 | 第35-37页 |
| 3.2 斩光系统设计 | 第37-41页 |
| 3.2.1 设计思想 | 第37-38页 |
| 3.2.2 斩光码盘设计 | 第38-41页 |
| 3.3 系统工作过程分析 | 第41-43页 |
| 3.4 本章小结 | 第43-45页 |
| 第4章 单CCD多光谱测温仪的工作波长研究 | 第45-57页 |
| 4.1 滤光片的选取 | 第45-47页 |
| 4.2 不同波长组合排列对不同测温模型测量性能的影响 | 第47-51页 |
| 4.2.1 不同波长组合对双光谱测温模型测量性能的影响 | 第47-49页 |
| 4.2.2 不同波长排列对三光谱测温模型测量性能的影响 | 第49-51页 |
| 4.3 发射率不确定性对不同测温模型测量偏差的影响 | 第51-55页 |
| 4.3.1 发射率变化对单光谱测温模型测量偏差的影响 | 第52-54页 |
| 4.3.2 发射率变化对多光谱测温模型测量偏差的影响 | 第54-55页 |
| 4.4 单CCD多光谱铸坯表面测温仪工作波长的确定 | 第55页 |
| 4.5 本章小结 | 第55-57页 |
| 第5章 单CCD多光谱测温仪的不同光谱图像重定位研究 | 第57-81页 |
| 5.1 图像错位问题分析 | 第57-59页 |
| 5.1.1 图像错位的产生原因 | 第57-58页 |
| 5.1.2 错位图像的特点分析 | 第58-59页 |
| 5.2 基于SIFT算子的特征点提取 | 第59-69页 |
| 5.2.1 SIFT算子特性分析 | 第60-61页 |
| 5.2.2 尺度空间构造 | 第61-65页 |
| 5.2.3 局部空间极值点检测 | 第65-66页 |
| 5.2.4 极值点方向分配 | 第66-67页 |
| 5.2.5 特征点描述符生成 | 第67-69页 |
| 5.3 基于简化SIFT算法的多光谱图像重定位 | 第69-74页 |
| 5.3.1 算法简化思想 | 第69-71页 |
| 5.3.2 构造尺度空间过程的简化 | 第71页 |
| 5.3.3 生成特征点描述符的简化 | 第71-72页 |
| 5.3.4 特征点匹配搜索过程的简化 | 第72-74页 |
| 5.3.5 偏移值计算与图像重定位 | 第74页 |
| 5.4 系统实现与实验 | 第74-79页 |
| 5.4.1 多光谱图像重定位系统开发 | 第74-75页 |
| 5.4.2 多光谱错位图像的获取 | 第75-78页 |
| 5.4.3 实验结果 | 第78-79页 |
| 5.5 本章小结 | 第79-81页 |
| 第6章 单CCD多光谱测温仪的标定 | 第81-87页 |
| 6.1 测温仪标定方法 | 第81-83页 |
| 6.2 以双光谱模型为例的测温仪标定 | 第83-85页 |
| 6.2.1 标定实验 | 第83-84页 |
| 6.2.2 标定结果 | 第84-85页 |
| 6.3 本章小结 | 第85-87页 |
| 第7章 结论与展望 | 第87-89页 |
| 7.1 结论 | 第87页 |
| 7.2 展望 | 第87-89页 |
| 参考文献 | 第89-95页 |
| 致谢 | 第95页 |
