摘要 | 第5-6页 |
Abstract | 第6-7页 |
目录 | 第8-10页 |
第1章 绪论 | 第10-28页 |
1.1 引言 | 第10-11页 |
1.2 交流损耗的产生机制及分类 | 第11-12页 |
1.3 交流损耗的理论研究 | 第12-22页 |
1.3.1 磁滞损耗 | 第12-16页 |
1.3.2 耦合损耗 | 第16-19页 |
1.3.3 涡流损耗 | 第19-20页 |
1.3.4 自场损耗 | 第20-22页 |
1.4 交流损耗的国内外研究进展 | 第22-26页 |
1.5 本论文研究意义 | 第26页 |
1.6 本论文的主要研究内容 | 第26-28页 |
第2章 交流损耗测量技术及设备 | 第28-40页 |
2.1 交流损耗的测量技术 | 第28-32页 |
2.1.1 不同的测量方法 | 第28-30页 |
2.1.2 交流损耗测量方法的比较 | 第30-32页 |
2.2 本论文采用的测量方法 | 第32-37页 |
2.2.1 实验示意图及实物图 | 第32-33页 |
2.2.2 主要装置介绍 | 第33-37页 |
2.3 测量系统的误差分析 | 第37-39页 |
2.4 本章小结 | 第39-40页 |
第3章 77K下Bi2212线带材的交流损耗 | 第40-63页 |
3.1 引言 | 第40-41页 |
3.2 Bi2212线带材的样品制备 | 第41-44页 |
3.2.1 PIT法制备Bi2212线带材 | 第41-44页 |
3.3 实验主要操作步骤 | 第44页 |
3.4 实验结果与讨论 | 第44-62页 |
3.4.1 Bi2212带材的损耗电压特性 | 第44-47页 |
3.4.2 Bi2212线材的交流损耗 | 第47-52页 |
3.4.3 不同芯丝数目Bi2212/AgMn带材的自场损耗 | 第52-54页 |
3.4.4 Bi2212带并联堆叠的损耗 | 第54-60页 |
3.4.5 损耗波形的观察 | 第60-62页 |
3.5 本章小结 | 第62-63页 |
第4章 Bi2223带材的交流损耗研究 | 第63-73页 |
4.1 引言 | 第63页 |
4.2 Bi2223带材样品的制备 | 第63-64页 |
4.3 Bi2223带材的交流损耗 | 第64-67页 |
4.3.1 不同临界电流的自场损耗 | 第64-65页 |
4.3.2 不同临界电流带材的损耗因子比较 | 第65-67页 |
4.4 Bi2223带材接头的研究 | 第67-71页 |
4.4.1 实验样品的处理 | 第67页 |
4.4.2 接头的临界电流测量 | 第67-69页 |
4.4.3 接头的交流损耗 | 第69-71页 |
4.5 实验样品异常情况 | 第71-72页 |
4.6 本章小结 | 第72-73页 |
第5章 结论与展望 | 第73-75页 |
5.1 结论 | 第73-74页 |
5.2 展望 | 第74-75页 |
参考文献 | 第75-80页 |
致谢 | 第80页 |