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Bi系高温超导线带材的交流损耗研究

摘要第5-6页
Abstract第6-7页
目录第8-10页
第1章 绪论第10-28页
    1.1 引言第10-11页
    1.2 交流损耗的产生机制及分类第11-12页
    1.3 交流损耗的理论研究第12-22页
        1.3.1 磁滞损耗第12-16页
        1.3.2 耦合损耗第16-19页
        1.3.3 涡流损耗第19-20页
        1.3.4 自场损耗第20-22页
    1.4 交流损耗的国内外研究进展第22-26页
    1.5 本论文研究意义第26页
    1.6 本论文的主要研究内容第26-28页
第2章 交流损耗测量技术及设备第28-40页
    2.1 交流损耗的测量技术第28-32页
        2.1.1 不同的测量方法第28-30页
        2.1.2 交流损耗测量方法的比较第30-32页
    2.2 本论文采用的测量方法第32-37页
        2.2.1 实验示意图及实物图第32-33页
        2.2.2 主要装置介绍第33-37页
    2.3 测量系统的误差分析第37-39页
    2.4 本章小结第39-40页
第3章 77K下Bi2212线带材的交流损耗第40-63页
    3.1 引言第40-41页
    3.2 Bi2212线带材的样品制备第41-44页
        3.2.1 PIT法制备Bi2212线带材第41-44页
    3.3 实验主要操作步骤第44页
    3.4 实验结果与讨论第44-62页
        3.4.1 Bi2212带材的损耗电压特性第44-47页
        3.4.2 Bi2212线材的交流损耗第47-52页
        3.4.3 不同芯丝数目Bi2212/AgMn带材的自场损耗第52-54页
        3.4.4 Bi2212带并联堆叠的损耗第54-60页
        3.4.5 损耗波形的观察第60-62页
    3.5 本章小结第62-63页
第4章 Bi2223带材的交流损耗研究第63-73页
    4.1 引言第63页
    4.2 Bi2223带材样品的制备第63-64页
    4.3 Bi2223带材的交流损耗第64-67页
        4.3.1 不同临界电流的自场损耗第64-65页
        4.3.2 不同临界电流带材的损耗因子比较第65-67页
    4.4 Bi2223带材接头的研究第67-71页
        4.4.1 实验样品的处理第67页
        4.4.2 接头的临界电流测量第67-69页
        4.4.3 接头的交流损耗第69-71页
    4.5 实验样品异常情况第71-72页
    4.6 本章小结第72-73页
第5章 结论与展望第73-75页
    5.1 结论第73-74页
    5.2 展望第74-75页
参考文献第75-80页
致谢第80页

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