| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-13页 |
| 1.1 散斑干涉测量技术应用及退相关现象 | 第9-11页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第11页 |
| 1.3 研究意义及主要完成工作 | 第11-13页 |
| 第二章 散斑干涉测量技术 | 第13-20页 |
| 2.1 散斑的产生与物理意义 | 第13-14页 |
| 2.2 散斑干涉测量基本原理 | 第14-17页 |
| 2.3 退相关产生的原因和危害 | 第17-19页 |
| 2.4 本章小结 | 第19-20页 |
| 第三章 编码调制抑制散斑干涉退相关方法及应用系统设计 | 第20-47页 |
| 3.1 散斑调制理论基础 | 第20-29页 |
| 3.1.1 自由空间散斑场统计特性 | 第20-24页 |
| 3.1.2 4f系统散斑相关尺寸研究 | 第24-26页 |
| 3.1.3 散斑尺寸与散斑相关性 | 第26-28页 |
| 3.1.4 提高散斑场相关性的一般方法 | 第28-29页 |
| 3.2 波前编码技术及应用 | 第29-33页 |
| 3.2.1 三次相位板的提出 | 第29-31页 |
| 3.2.2 相位调制光学系统成像特性分析 | 第31-33页 |
| 3.3 相位编码调制抑制退相关方法 | 第33-36页 |
| 3.4 编码调制对散斑相关性的影响 | 第36-45页 |
| 3.5 编码调制散斑干涉测量系统设计 | 第45-46页 |
| 3.6 本章小结 | 第46-47页 |
| 第四章 实验结果与分析 | 第47-61页 |
| 4.1 相位调制散斑场相关性研究 | 第47-53页 |
| 4.1.1 相位调制对散斑场相关性的影响 | 第47-51页 |
| 4.1.2 系统参数对调制散斑场相关性的影响 | 第51-53页 |
| 4.2 相位调制散斑干涉测量系统实验 | 第53-59页 |
| 4.2.1 相位调制对退相关的抑制 | 第54-56页 |
| 4.2.2 系统参数对调制散斑场抑制退相关能力的影响 | 第56-59页 |
| 4.3 本章小结 | 第59-61页 |
| 第五章 总结与展望 | 第61-63页 |
| 5.1 总结 | 第61-62页 |
| 5.2 展望 | 第62-63页 |
| 参考文献 | 第63-67页 |
| 发表论文和参加科研情况说明 | 第67-68页 |
| 致谢 | 第68-69页 |