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亚波长微偏振光栅探测器的研制方法及其偏振特性研究

致谢第4-5页
摘要第5-7页
ABSTRACT第7-9页
1 引言第13-33页
    1.1 红外技术的发展介绍第13-17页
        1.1.1 红外探测器的发展第13-14页
        1.1.2 短波红外InGaAs探测器的发展第14-17页
    1.2 偏振探测技术及其发展第17-28页
        1.2.1 偏振探测工作原理第17-21页
        1.2.2 偏振探测技术的国内外研究进展第21-24页
        1.2.3 微纳加工技术在偏振领域中的应用第24-28页
    1.3 红外偏振成像技术第28-31页
        1.3.1 红外波段偏振信息特点第28-29页
        1.3.2 红外分焦平面偏振探测研究进展第29-31页
    1.4 本论文的研究目的和主要内容第31-33页
2 表面等离子激元基本理论第33-45页
    2.1 表面等离子激元相关概念第33-34页
    2.2 表面等离子激元定性分析第34-36页
    2.3 表面等离子激元定量分析第36-41页
        2.3.1 表面等离子激元的色散关系第36-39页
        2.3.2 表面等离子激元的特征长度第39-41页
    2.4 亚波长金属偏振光栅基本原理第41-44页
    2.5 本章小结第44-45页
3 亚波长金属光栅偏振性能模拟第45-59页
    3.1 亚波长金属偏振光栅仿真模型建立第45-49页
        3.1.1 微纳结构模拟仿真方法简介第45页
        3.1.2 亚波长金属光栅的结构设计和仿真参数设定第45-47页
        3.1.3 不同亚波长金属光栅材料的比较第47-49页
    3.2 Metal grating/InP结构偏振性能模拟第49-52页
    3.3 Metal grating/SiO2/InP结构偏振性能模拟第52-57页
        3.3.1 光栅周期对偏振性能影响第52-54页
        3.3.2 光栅占空比和厚度对偏振性能影响第54-56页
        3.3.3 SiO2厚度对偏振性能影响第56-57页
    3.4 本章小结第57-59页
4 短波红外波段偏振测试系统第59-77页
    4.1 引言第59页
    4.2 亚波长金属光栅偏振片测试系统第59-73页
        4.2.1 测试对象第59-60页
        4.2.2 测试方案设计第60-65页
        4.2.3 测试系统搭建第65-68页
        4.2.4 亚波长金属光栅偏振片测试系统校准第68-73页
    4.3 偏振探测器测试系统第73-76页
        4.3.1 测试对象第73页
        4.3.2 测试方案设计第73-75页
        4.3.3 InGaAs偏振探测器的测试系统校准第75-76页
    4.4 本章小结第76-77页
5 亚波长金属光栅偏振片的制备与性能研究第77-89页
    5.1 亚波长金属偏振光栅制备工艺第77-78页
    5.2 Metal Grating/InP结构测试与分析第78-82页
    5.3 Metal Grating/SiO2/InP结构测试与分析第82-88页
        5.3.1 Au-S-1 偏振性能测试与分析第82-85页
        5.3.2 Al-S-1 偏振性能测试与分析第85-88页
    5.4 本章小结第88-89页
6 InGaAs偏振探测器原型器件制备与性能研究第89-107页
    6.1 偏振探测器原型器件的结构设计第89-90页
    6.2 偏振探测器原型器件的制备工艺第90-94页
        6.2.1 光栅与探测器工艺兼容性研究第90-92页
        6.2.2 偏振探测器的工艺制备第92-94页
    6.3 偏振探测器原型器件的性能测试与分析第94-104页
        6.3.1 InGaAs偏振探测器的偏振性能测试第94-103页
        6.3.2 InGaAs偏振探测器的光电性能测试第103-104页
    6.4 本章小结第104-107页
7 全文总结与展望第107-111页
    7.1 全文总结第107-109页
    7.2 展望第109-111页
参考文献第111-119页
作者简介及在学期间发表的学术论文与研究成果第119页

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