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采用升华法生长GaN纳米线的仿真与实验研究

摘要第4-5页
abstract第5-6页
第一章 绪论第9-22页
    1.1 引言第9-11页
    1.2 纳米材料的基本特征及应用第11-13页
        1.2.1 纳米材料的概述及其分类第11-12页
        1.2.2 纳米材料的特性第12-13页
        1.2.3 纳米材料的应用第13页
    1.3 GaN材料的性质及其应用第13-17页
        1.3.1 GaN材料的晶体结构第13-15页
        1.3.2 GaN薄膜的制备方法第15-16页
        1.3.3 GaN材料的应用第16-17页
    1.4 GaN纳米线的研究第17-20页
        1.4.1 GaN纳米材料的性质第17-18页
        1.4.2 GaN纳米线的制备方法第18-19页
        1.4.3 GaN纳米材料的表征手段第19-20页
    1.5 本文的主要研究内容及安排第20-22页
第二章 流体计算与升华法生长系统第22-30页
    2.1 流体力学第22-24页
        2.1.1 流体流动的分类及状态第22-23页
        2.1.2 流体流动的控制方程第23-24页
    2.2 计算流体动力学基础第24-25页
        2.2.1 计算流体力学的求解过程及数值求解方法第24-25页
        2.2.2 计算流体力学的应用第25页
    2.3 数值模拟之Fluent软件包第25-27页
        2.3.1 Fluent软件包的结构第26页
        2.3.2 Fluent的求解步骤第26-27页
    2.4 升华法生长系统第27-29页
        2.4.1 升华法制备工艺第27-28页
        2.4.2 本课题模拟研究的卧式升华法生长系统第28-29页
    2.5 本章小结第29-30页
第三章 升华法生长系统反应腔的数值模拟第30-54页
    3.1 升华法生长系统反应腔二维模型建立第30-32页
        3.1.1 反应腔几何模型和网格划分第30-31页
        3.1.2 仿真模型参数计算与分析第31-32页
    3.2 反应室温度的数值模拟与优化第32-38页
        3.2.1 设计思想及边界条件的设定第32-33页
        3.2.2 反应腔体的流场分布第33-35页
        3.2.3 分析与优化第35-38页
    3.3 衬底与Ga源槽的距离的数值模拟与优化第38-42页
        3.3.1 设计思想及边界条件的设定第38页
        3.3.2 反应腔体的流场分布第38-40页
        3.3.3 分析与优化第40-42页
    3.4 盛放Ga源的基座距腔体底边距离的数值模拟与优化第42-47页
        3.4.1 设计思想及边界条件的设定与优化第42页
        3.4.2 反应腔体的流场分布第42-45页
        3.4.3 分析与优化第45-47页
    3.5 不同载气N2流量下的数值模拟与优化第47-52页
        3.5.1 设计思想及边界条件的设定第47页
        3.5.2 反应腔体的流场分布第47-50页
        3.5.3 分析与优化第50-52页
    3.6 本章小结第52-54页
第四章 升华法制备GaN纳米线的实验研究第54-60页
    4.1 实验环境第54-55页
    4.2 实验步骤第55页
    4.3 实验结果分析与优化第55-59页
        4.3.1 不同NH3流量对实验制备GaN纳米线的影响第55-56页
        4.3.2 不同生长时间对实验制备GaN纳米线的影响第56-57页
        4.3.3 催化剂对实验制备GaN纳米线的影响第57-58页
        4.3.4 缓冲层对实验制备GaN纳米线的影响第58-59页
    4.4 本章小结第59-60页
第五章 总结与展望第60-62页
参考文献第62-65页
附录1 攻读硕士学位期间撰写的论文第65-66页
致谢第66页

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