摘要 | 第4-6页 |
Abstract | 第6-7页 |
第1章 引言 | 第11-18页 |
1.1 选题依据与研究意义 | 第11页 |
1.2 国内外研究现状 | 第11-16页 |
1.2.1 压裂液的发展现状 | 第11-14页 |
1.2.2 储层保护技术的研究现状 | 第14页 |
1.2.3 储层水锁伤害与解除方法研究现状 | 第14-16页 |
1.3 主要研究内容及创新点 | 第16-18页 |
1.3.1 完成的工作量 | 第16页 |
1.3.2 主要研究内容 | 第16-17页 |
1.3.3 研究的技术路线 | 第17页 |
1.3.4 论文主要成果 | 第17-18页 |
第2章 气藏基本特征描述 | 第18-24页 |
2.1 构造特征 | 第18页 |
2.2 储层特征 | 第18-22页 |
2.2.1 沉积及砂体展布特征 | 第18页 |
2.2.2 岩性特征 | 第18-19页 |
2.2.3 物性特征 | 第19-21页 |
2.2.4 孔喉特征 | 第21页 |
2.2.5 电性特征 | 第21-22页 |
2.2.6 喉道形态类型、大小及孔喉组合关系 | 第22页 |
2.2.7 储层敏感性特征 | 第22页 |
2.3 气藏温度及压力系统 | 第22-23页 |
2.4 气藏流体性质 | 第23页 |
2.5 气藏类型 | 第23-24页 |
第3章 伤害机理研究 | 第24-33页 |
3.1 致密气藏特征分析 | 第24-25页 |
3.1.1 致密储层成因机理 | 第24页 |
3.1.2 致密砂岩储层特征 | 第24-25页 |
3.1.3 亚束缚水饱和度 | 第25页 |
3.2 压裂伤害机理研究 | 第25-33页 |
3.2.1 压裂造成伤害的类型 | 第25-26页 |
3.2.2 裂缝伤害 | 第26-27页 |
3.2.3 聚合物滤饼伤害 | 第27-29页 |
3.2.4 储层伤害 | 第29-32页 |
3.2.5 小结 | 第32-33页 |
第4章 压裂缝模型的建立与数值模拟 | 第33-39页 |
4.1 数值模型参数的确定 | 第33-34页 |
4.1.1 数值模型网格的确定 | 第33-34页 |
4.1.2 模型参数的确定 | 第34页 |
4.2 模型的建立 | 第34-37页 |
4.3 单相流(完全返排)对气井生产影响模拟 | 第37页 |
4.4 两相流(不完全返排)对气井生产影响模拟 | 第37-39页 |
第5章 裂缝和滤饼伤害的数值模拟研究 | 第39-48页 |
5.1 导流能力对压裂井生产的影响 | 第39-44页 |
5.1.1 单相流条件下导流能力对压裂井生产的影响 | 第40-42页 |
5.1.2 两相流条件下导流能力对压裂井生产的影响 | 第42-43页 |
5.1.3 小结 | 第43-44页 |
5.2 滤饼渗透率对压裂井生产的影响 | 第44-48页 |
第6章 水相圈闭的数值模拟研究 | 第48-68页 |
6.1 致密气藏的水相圈闭 | 第48-54页 |
6.1.1 水相圈闭的概念 | 第48页 |
6.1.2 水相圈闭与水锁之间的差异 | 第48-49页 |
6.1.3 水相圈闭的影响因素 | 第49-51页 |
6.1.4 水相圈闭的诊断参数 | 第51-54页 |
6.2 滤失量对生产井的影响模拟 | 第54-57页 |
6.2.1 裂缝无因次导流能力Cr=0.1 时滤失量对生产井的影响 | 第54-55页 |
6.2.2 裂缝无因次导流能力Cr=1 时滤失量对生产井的影响 | 第55-56页 |
6.2.3 小结 | 第56-57页 |
6.3 滤液侵入深度对生产井的影响 | 第57-68页 |
6.3.1 滤液侵入区域绝对渗透率不变的情况下关井时间的模拟 | 第59-62页 |
6.3.2 滤液侵入区域绝对渗透率改变的情况下关井时间的模拟 | 第62-67页 |
6.3.3 小结 | 第67-68页 |
第7章 降低压裂伤害对策研究 | 第68-77页 |
7.1 低稠化剂压裂液 | 第68-70页 |
7.1.1 低稠化剂压裂液的特点 | 第68页 |
7.1.2 低稠化剂压裂液的性能评价 | 第68-70页 |
7.2 表面活性剂对改善水相圈闭的影响 | 第70-77页 |
7.2.1 表面活性剂的特点 | 第70-71页 |
7.2.2 表面活性剂在水基压裂液中的作用 | 第71页 |
7.2.3 表面活性剂的添加对气井生产的影响模拟 | 第71-77页 |
结论 | 第77-78页 |
致谢 | 第78-79页 |
参考文献 | 第79-83页 |
攻读学位期间取得学术成果 | 第83页 |