| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6页 |
| 第1章 绪论 | 第9-14页 |
| 1.1 课题背景及研究的目的和意义 | 第9-10页 |
| 1.2 超声无损评价技术国内现状 | 第10页 |
| 1.3 超声无损评价技术国外现状 | 第10页 |
| 1.4 超声波瓷瓶探伤技术应用的发展概况及现状分析 | 第10-12页 |
| 1.5 本论文的主要工作 | 第12-14页 |
| 第2章 高压瓷质绝缘子超声波探伤仪的工作原理和使用方法 | 第14-27页 |
| 2.1 超声波瓷瓶探伤仪的原理 | 第14-18页 |
| 2.2 使用方法介绍 | 第18-26页 |
| 2.2.1 超声波瓷瓶探伤的选择方式 | 第20-21页 |
| 2.2.2 超声波瓷瓶探伤仪的使用方法介绍 | 第21-23页 |
| 2.2.3 瓷瓶现场探伤流程简述 | 第23-25页 |
| 2.2.4 规程 | 第25-26页 |
| 2.3 本章小结 | 第26-27页 |
| 第3章 超声波瓷瓶探伤DAC曲线图分析 | 第27-40页 |
| 3.1 超声波瓷瓶探伤的工作要求及在实际应用中需注意的问题 | 第27-29页 |
| 3.1.1 对超声波瓷瓶探伤测试人员的工作要求 | 第27-28页 |
| 3.1.2 超声波瓷瓶探伤在实际应用中需注意的问题 | 第28-29页 |
| 3.2 不同缺陷瓷瓶的超声波探伤DAC图谱分析 | 第29-37页 |
| 3.2.1 瓷件材料的分类 | 第29页 |
| 3.2.2 缺陷按形状分类 | 第29-30页 |
| 3.2.3 缺陷按回波信号分类 | 第30-31页 |
| 3.2.4 不同缺陷瓷瓶DAC典型图谱分析 | 第31-37页 |
| 3.3 瓷瓶超声波瓷瓶探伤测试的干扰因素分析 | 第37-38页 |
| 3.3.1 瓷瓶表面有杂质、不规正及材质非均质影响测试结果 | 第37-38页 |
| 3.3.2 探伤测试发现缺陷做量化表征存在困难 | 第38页 |
| 3.3.3 超声波在介质中的传播过程中发生相应的散射和衰减 | 第38页 |
| 3.4 本章小结 | 第38-40页 |
| 第4章 高压瓷质绝缘子超声波探伤在景德镇电网中的应用分析 | 第40-48页 |
| 4.1 在国网江西省电力公司景德镇供电分公司使用中应用情况 | 第40-42页 |
| 4.2 探伤经验 | 第42-44页 |
| 4.2.1 结合爬波和纵波定位缺陷位置 | 第44页 |
| 4.2.2 测试人员实际经验可大致对瓷瓶缺陷定性 | 第44页 |
| 4.3 伪缺陷波的判别 | 第44-45页 |
| 4.3.1 仪器杂波在不接探头的情况 | 第44-45页 |
| 4.3.2 探头与被瓷瓶测试面接触产生杂波 | 第45页 |
| 4.3.3 表面粗糙引起的干扰信号 | 第45页 |
| 4.3.4 瓷瓶绝缘子沟槽反射引起的反射波 | 第45页 |
| 4.3.5 表面耦合剂厚薄不均时引起的回波 | 第45页 |
| 4.4 超声波探伤判废依据 | 第45-46页 |
| 4.5 不同缺陷的处理和防范措施 | 第46-47页 |
| 4.6 本章小结 | 第47-48页 |
| 第5章 结论与展望 | 第48-50页 |
| 参考文献 | 第50-52页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文及其它成果 | 第52-53页 |
| 致谢 | 第53-54页 |
| 作者简介 | 第54页 |
