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A位离子取代Mg2SiO4基陶瓷的制备及其微波介电性能调控

摘要第3-5页
Abstract第5-6页
第1章 绪论第9-19页
    1.1 引言第9-10页
    1.2 微波陶瓷性能参数第10-13页
    1.3 显微结构对介电性能的影响第13-14页
    1.4 微波介质陶瓷的分类与研究现状第14-15页
        1.4.1 微波介质陶瓷的分类第14页
        1.4.2 微波介质陶瓷的研究现状第14-15页
    1.5 本文立题依据及主要研究内容第15-19页
        1.5.1 本文立题依据第15-16页
        1.5.2 本文内容第16-19页
第2章 样品的制备与表征分析第19-25页
    2.1 样品的制备过程第19-22页
        2.1.1 原材料第19-20页
        2.1.2 样品制备工艺流程与参数第20-22页
    2.2 样品的表征与测试分析第22-25页
        2.2.1 样品烧结性能表征第22-23页
        2.2.2 样品的结构表征第23-24页
        2.2.3 样品介电性能的测试表征第24-25页
第3章 过量MgO对Mg_2SiO_4陶瓷微波介电性能的影响第25-33页
    3.1 引言第25页
    3.2 样品制备第25-26页
    3.3 样品的相结构与显微组织结构第26-29页
        3.3.1 相结构表征第26-27页
        3.3.2 显微结构分析第27-29页
    3.4 样品的烧结性能和微波介电性能第29-31页
    3.5 本章小结第31-33页
第4章 Ca~(2+)离子取代对Mg_2SiO_4陶瓷微波介电性能的影响第33-41页
    4.1 引言第33页
    4.2 样品制备第33-34页
    4.3 样品的相结构与显微组织结构第34-39页
        4.3.1 相结构表征第34-35页
        4.3.2 显微结构分析第35-36页
        4.3.3 样品的烧结性能和微波介电性能第36-39页
    4.4 本章小结第39-41页
第5章 低温烧结Mg_(2-x)Cu_xSiO_4陶瓷的制备及其微波介电性能调控第41-53页
    5.1 引言第41页
    5.2 Mg_(2-x)Cu_xSiO_4陶瓷的制备及性能研究第41-46页
        5.2.1 样品制备第41-42页
        5.2.2 陶瓷样品的结构与性能表征第42-46页
    5.3 低温烧结Mg_(1.9)Cu_(0.1)SiO_4-(La_(0.5)Na_(0.5))TiO_3复合陶瓷的制备及性能研究第46-52页
        5.3.1 样品制备第46-47页
        5.3.2 陶瓷样品的结构与性能表征第47-52页
    5.4 本章结论第52-53页
总结与展望第53-55页
参考文献第55-61页
致谢第61-63页
攻读硕士学位期间科研成果第63页

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