摘要 | 第4-6页 |
Abstract | 第6-7页 |
主要符号表 | 第20-21页 |
第一章 绪论 | 第21-34页 |
1.1 磁约束聚变核能相关背景 | 第21-25页 |
1.2 等离子体与壁材料相互作用 | 第25-29页 |
1.2.1 托卡马克等离子体边界层 | 第25-26页 |
1.2.2 面向等离子体的壁材料 | 第26-28页 |
1.2.3 等离子体与壁材料相互作用 | 第28-29页 |
1.3 壁材料诊断方法 | 第29-32页 |
1.3.1 传统PWI诊断方法 | 第29-30页 |
1.3.2 激光诱导击穿光谱技术 | 第30-32页 |
1.4 本文主要研究内容与思路 | 第32-34页 |
第二章 激光诱导击穿光谱技术壁材料成分分析研究 | 第34-68页 |
2.1 引言 | 第34页 |
2.2 LIBS系统基本组成 | 第34-38页 |
2.2.1 激光器 | 第35页 |
2.2.2 光谱探测系统 | 第35-38页 |
2.3 激光诱导等离子体物理特性研究 | 第38-42页 |
2.3.1 激光诱导等离子体产生机理 | 第38-40页 |
2.3.2 激光诱导等离子体光谱特性 | 第40-42页 |
2.4 激光诱导等离子体实验诊断研究 | 第42-54页 |
2.4.1 激光等离子体光谱强度随时间演化规律 | 第42-44页 |
2.4.2 激光诱导等离子体电子密度随时间演化规律 | 第44-47页 |
2.4.3 激光等离子体温度随时间演化规律 | 第47-51页 |
2.4.4 激光烧蚀率表征 | 第51-54页 |
2.5 LIBS对面向等离子体壁材料诊断研究 | 第54-66页 |
2.5.1 偏滤器石墨瓦实验样品介绍 | 第54-58页 |
2.5.2 LIBS实验装置 | 第58-59页 |
2.5.3 辐照前后偏滤器石墨瓦LIBS分析研究 | 第59-60页 |
2.5.4 基于LIBS技术壁材料表面共沉积杂质层全元素深度分布研究 | 第60-65页 |
2.5.5 基于LIBS技术壁材料多元素成像分析 | 第65-66页 |
2.6 本章小结 | 第66-68页 |
第三章 压强、强磁场对LIBS的影响 | 第68-94页 |
3.1 引言 | 第68页 |
3.2 环境气压对LIBS诊断的影响 | 第68-84页 |
3.2.1 不同气压环境LIBS测试实验装置 | 第68-70页 |
3.2.2 实验样品 | 第70-71页 |
3.2.3 环境气压对LIBS的影响 | 第71-75页 |
3.2.4 低气压环境下LIBS实验 | 第75-80页 |
3.2.5 EAST装置LIBS原位诊断系统 | 第80-83页 |
3.2.6 EAST装置原位LIBS诊断初步实验结果 | 第83-84页 |
3.3 强磁场环境对LIBS诊断技术的影响 | 第84-92页 |
3.3.1 LIBS实验装置 | 第84-86页 |
3.3.2 托卡马克气压环境下强磁场对LIBS表征实验的影响 | 第86-92页 |
3.4 本章小结 | 第92-94页 |
第四章 双脉冲LIBS技术超高真空环境下壁材料痕量杂质沉积分析诊断研究 | 第94-106页 |
4.1 引言 | 第94页 |
4.2 DP-LIBS工作原理 | 第94-96页 |
4.3 超高真空环境共轴双脉冲实验装置 | 第96-98页 |
4.4 超高环境下脉冲间隔时间对DP-LIBS的影响 | 第98-102页 |
4.5 DP-LIBS超高真空环境下偏滤器石墨瓦表面共沉积杂质元素分析测量 | 第102-105页 |
4.6 本章小结 | 第105-106页 |
第五章 双脉冲激光诱导击穿光谱技术第一镜表面超薄杂质层分析 | 第106-122页 |
5.1 引言 | 第106-107页 |
5.2 第一镜表面沉积杂质成分表征 | 第107-110页 |
5.3 垂直再加热DP-LIBS实验装置 | 第110-111页 |
5.4 垂直再加热DP-LIBS实验结果与讨论 | 第111-120页 |
5.5 飞秒激光烧蚀实验初步探究 | 第120-121页 |
5.6 本章小结 | 第121-122页 |
第六章 结论与展望 | 第122-126页 |
6.1 结论 | 第122-124页 |
6.2 创新点摘要 | 第124页 |
6.3 展望 | 第124-126页 |
参考文献 | 第126-138页 |
攻读博士学位期间科研项目及科研成果 | 第138-141页 |
致谢 | 第141-142页 |
作者简介 | 第142页 |