基于稀疏矩阵的自检校光束法平差相机检校研究
| 摘要 | 第1-3页 |
| ABSTRACT | 第3-8页 |
| 1 绪论 | 第8-14页 |
| ·论文研究背景 | 第8-9页 |
| ·国内外研究现状 | 第9-11页 |
| ·国外研究现状 | 第9-10页 |
| ·国内研究现状 | 第10-11页 |
| ·论文研究目的与意义 | 第11-12页 |
| ·论文主要研究内容 | 第12-13页 |
| ·论文组织结构 | 第13-14页 |
| 2 相机检校基础知识与检校方法综述 | 第14-24页 |
| ·相机成像模型 | 第14-19页 |
| ·针孔成像模型 | 第14-16页 |
| ·基于共线条件方程描述的成像模型 | 第16-18页 |
| ·加入畸变后的相机模型 | 第18-19页 |
| ·相机检校内容 | 第19-21页 |
| ·相机内参数 | 第19页 |
| ·镜头光学畸变差 | 第19-21页 |
| ·常用检校方法 | 第21-23页 |
| ·张正友相机检校法 | 第21页 |
| ·直接线性变换相机检校 | 第21-22页 |
| ·基于 Kruppa 方程的相机自检校 | 第22页 |
| ·基于空间后方交会的相机检校 | 第22-23页 |
| ·本章小结 | 第23-24页 |
| 3 三维相机检校控制场的建立 | 第24-30页 |
| ·三维相机检校控制场的布设 | 第24-25页 |
| ·三维相机检校控制场布设基本的原则 | 第24页 |
| ·三维相机检校控制场的实施方案 | 第24-25页 |
| ·三维相机检校控制场的量测 | 第25-28页 |
| ·特高精度控制测量方法 | 第25-28页 |
| ·控制场量测 | 第28页 |
| ·实验与分析 | 第28-30页 |
| ·坐标解算 | 第28页 |
| ·精度评定 | 第28-29页 |
| ·稳定性分析 | 第29-30页 |
| 4 影像像点坐标自动定位与高精度量测 | 第30-40页 |
| ·像点坐标自动方法概述 | 第30-31页 |
| ·编码标志的设计与识别 | 第31-33页 |
| ·编码标志设计 | 第31-33页 |
| ·编码标志提取与识别 | 第33页 |
| ·基于 DLT 的像点坐标预测 | 第33-34页 |
| ·控制点像点高精度量测 | 第34-36页 |
| ·子图像预处理 | 第34页 |
| ·控制点像点初量测 | 第34-35页 |
| ·错误剔除 | 第35页 |
| ·高精度提取 | 第35-36页 |
| ·实验分析 | 第36-39页 |
| ·本章小结 | 第39-40页 |
| 5 基于稀疏矩阵的自检校光束法平差相机检校 | 第40-59页 |
| ·自检校光束法平差 | 第40-46页 |
| ·自检校光束法平差基本原理 | 第40页 |
| ·自检校光束法平差传统解法 | 第40-44页 |
| ·自检校光束法平差中的权值 | 第44-46页 |
| ·基于稀疏矩阵的自检校光束法平差 | 第46-51页 |
| ·基于 LM 算法的自检校光束法平差解算 | 第46-49页 |
| ·基于稀疏矩阵的加速算法 | 第49-51页 |
| ·相机检校实验 | 第51-54页 |
| ·传统光束法相机检校实验 | 第52-53页 |
| ·基于稀疏矩阵的光束法相机检校实验 | 第53页 |
| ·对比分析 | 第53-54页 |
| ·精度评价实验 | 第54-57页 |
| ·本章小结 | 第57-59页 |
| 6 相机检校应用与分析 | 第59-63页 |
| ·无人机航空摄影测量 | 第59-60页 |
| ·近景摄影测量 | 第60-62页 |
| ·本章小结 | 第62-63页 |
| 7 总结与展望 | 第63-65页 |
| ·主要贡献与创新之处 | 第63页 |
| ·展望 | 第63-65页 |
| 致谢 | 第65-66页 |
| 参考文献 | 第66-69页 |
| 硕士期间发表论文 | 第69页 |
