低能X射线发生系统研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-12页 |
| ·课题研究背景及意义 | 第7-8页 |
| ·研究背景 | 第7页 |
| ·研究意义 | 第7-8页 |
| ·国内外发展现状及趋势 | 第8-10页 |
| ·本文的研究目的与内容 | 第10-12页 |
| 第二章 X 射线的性质及其控制方案设计 | 第12-21页 |
| ·X 射线的基本性质 | 第12页 |
| ·射线的质和量 | 第12-14页 |
| ·X 射线与物质相互作用 | 第14-15页 |
| ·射线的衰减规律 | 第15页 |
| ·X 射线的产生 | 第15-17页 |
| ·X 射线控制方案 | 第17-20页 |
| ·高频开关电源高压方案 | 第18-19页 |
| ·高频开关电源管电流控制方案 | 第19页 |
| ·低能 X 射线机总体控制方案 | 第19-20页 |
| ·本章小结 | 第20-21页 |
| 第三章 系统硬件设计 | 第21-37页 |
| ·开关电源的发展 | 第21页 |
| ·开关变换器拓扑结构及其原理 | 第21-23页 |
| ·非隔离式变换器 | 第21-22页 |
| ·隔离式变换器 | 第22-23页 |
| ·X 射线管高压电源原理与实现 | 第23-32页 |
| ·EMC 滤波电路设计 | 第24页 |
| ·整流电路 | 第24-25页 |
| ·Buck 型降压电路 | 第25-27页 |
| ·全桥谐振逆变电路 | 第27-28页 |
| ·升压脉冲变压器 | 第28-29页 |
| ·倍压整流电路 | 第29-31页 |
| ·高压输出的反馈测量 | 第31-32页 |
| ·电流方案选择及实现方法 | 第32-36页 |
| ·PWM 控制器 TL494 | 第33-35页 |
| ·灯丝电源电流采样电路 | 第35-36页 |
| ·本章小结 | 第36-37页 |
| 第四章 控制器系统设计 | 第37-53页 |
| ·STM32 硬件系统设计 | 第37-40页 |
| ·STM32103VE 最小系统设计 | 第37-38页 |
| ·STM32 内部时钟 | 第38-40页 |
| ·Keil MDK 开发环境 | 第40页 |
| ·STM32 单片机的系统软硬件设计 | 第40-50页 |
| ·A/D 采样模块 | 第41页 |
| ·D/A 输出模块 | 第41-42页 |
| ·PWM 模块输出波形控制系统 | 第42-46页 |
| ·温度传感器使用 | 第46-48页 |
| ·RS-485 串行通信接口 | 第48-50页 |
| ·上位机控制程序 | 第50-52页 |
| ·本章小结 | 第52-53页 |
| 第五章 系统调试与实验 | 第53-64页 |
| ·实验使用仪器 | 第53-54页 |
| ·X 射线机组装 | 第54页 |
| ·X 射线检测仪器及其原理 | 第54-57页 |
| ·系统实验 | 第57-62页 |
| ·背景辐射对照实验 | 第57-58页 |
| ·探测时间对结果影响实验 | 第58-59页 |
| ·灯丝电流对射线影响实验 | 第59页 |
| ·高压电压值对照实验 | 第59-60页 |
| ·射线稳定度实验 | 第60-61页 |
| ·射线衰减规律试验及其分析 | 第61-62页 |
| ·射线穿透能力实验 | 第62页 |
| ·本章小结 | 第62-64页 |
| 第六章 总结 | 第64-66页 |
| 致谢 | 第66-67页 |
| 参考文献 | 第67-70页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文 | 第70-71页 |
| 详细摘要 | 第71-80页 |
