| CONTENTS | 第1-10页 |
| 中文摘要 | 第10-12页 |
| ABSTRACT | 第12-14页 |
| 第一章 前言 | 第14-24页 |
| ·膜分离法 | 第14-18页 |
| ·发展概述与技术特点 | 第14页 |
| ·膜分离原理及分类 | 第14-15页 |
| ·膜材料及膜组件 | 第15-16页 |
| ·膜工艺参数及运行模式 | 第16-17页 |
| ·膜污染及清洗 | 第17-18页 |
| ·xDLVO理论在膜污染研究中的应用 | 第18-22页 |
| ·xDLVO理论解析膜污染行为的有效性 | 第18-19页 |
| ·xDLVO理论解析溶液条件对膜污染行为的影响 | 第19-20页 |
| ·评价xDLVO理论有效性的方法 | 第20页 |
| ·xDLVO理论与其他膜污染影响因素的结合 | 第20-21页 |
| ·目前相关研究的不足之处 | 第21-22页 |
| ·腐殖酸膜污染 | 第22-23页 |
| ·腐殖酸简介 | 第22页 |
| ·腐殖酸膜污染研究现状 | 第22-23页 |
| ·研究目的与内容 | 第23-24页 |
| ·研究目的 | 第23页 |
| ·研究内容 | 第23-24页 |
| 第二章 实验材料与方法 | 第24-36页 |
| ·xDLVO理论 | 第24-27页 |
| ·表面张力与界面自由能 | 第24-25页 |
| ·圆球形污染物与平面膜之间的相互作用能 | 第25-27页 |
| ·球形污染物之间的相互作用能 | 第27页 |
| ·实验材料 | 第27-28页 |
| ·微滤膜与腐殖酸理化性质表征 | 第28-31页 |
| ·接触角测定 | 第28-29页 |
| ·Zeta电位测定 | 第29-30页 |
| ·原子力显微镜(Atomic force microscopy,AFM)表征 | 第30页 |
| ·冷场发射扫描电子显微镜(Scanned Electronic Microscopic) | 第30页 |
| ·动态光散射(Dynamic light scattering,DLS) | 第30页 |
| ·腐殖酸浓度测定 | 第30-31页 |
| ·腐殖酸微滤膜污染实验与膜清洗 | 第31-36页 |
| 第三章 不同pH值下腐殖酸微滤膜污染微距作用机制 | 第36-58页 |
| ·微滤膜表面理化性质与表面能 | 第36-39页 |
| ·微滤膜接触角 | 第36-37页 |
| ·微滤膜表面能 | 第37-39页 |
| ·微滤膜Zeta电位 | 第39页 |
| ·腐殖酸表面理化性质与表面能 | 第39-43页 |
| ·腐殖酸接触角 | 第39-40页 |
| ·腐殖酸表面能 | 第40-41页 |
| ·腐殖酸溶液的表观粒径分布 | 第41-42页 |
| ·腐殖酸Zeta电位 | 第42-43页 |
| ·微滤膜-腐殖酸与腐殖酸-腐殖酸界面作用能 | 第43-47页 |
| ·微滤膜-腐殖酸界面作用能 | 第43-46页 |
| ·腐殖酸-腐殖酸界面作用能 | 第46-47页 |
| ·不同pH值下腐殖酸微滤膜污染行为 | 第47-53页 |
| ·腐殖酸微滤过程中通量下降行为 | 第47-49页 |
| ·腐殖酸微滤过程中腐殖酸截留率 | 第49-51页 |
| ·微滤膜图像观察 | 第51-53页 |
| ·物理清洗与化学清洗结果 | 第53-55页 |
| ·物理清洗效率 | 第53-54页 |
| ·化学清洗效率 | 第54-55页 |
| ·小结 | 第55-58页 |
| 第四章 界面作用-膜污染趋势定量关系影响因素探究 | 第58-70页 |
| ·腐殖酸微滤膜污染过程分段 | 第58-60页 |
| ·膜污染趋势与界面作用能线性拟合 | 第60-62页 |
| ·膜污染位置对拟合直线斜率的影响 | 第62-63页 |
| ·出水通量对拟合直线斜率的影响 | 第63-65页 |
| ·膜表面粗糙度对拟合直线斜率的影响 | 第65-67页 |
| ·小结 | 第67-70页 |
| 第五章 结论及建议 | 第70-72页 |
| ·结论 | 第70-71页 |
| ·建议 | 第71-72页 |
| 参考文献 | 第72-80页 |
| 致谢 | 第80-82页 |
| 攻读学位期间论文发表情况 | 第82-83页 |
| 学位论文评阅及答辩情况表 | 第83页 |
