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红外制冷探测器高效冷屏的设计与优化

致谢第4-6页
摘要第6-7页
Abstract第7-8页
第1章 绪论第11-20页
    1.1 红外探测技术第11-12页
    1.2 概述第12-13页
    1.3 研究现状第13-18页
        1.3.1 国外研究现状第14-17页
        1.3.2 国内研究现状第17-18页
    1.4 研究内容第18-20页
第2章 红外探测器杂散辐射分析的基本理论第20-32页
    2.1 基本理论第20-27页
        2.1.1 双向散射分布函数第20-21页
        2.1.2 基本辐射量第21页
        2.1.3 基本能量传输方程第21-23页
        2.1.4 黑体辐射第23-25页
        2.1.5 立体角第25-27页
    2.2 杂散辐射的产生及抑制第27-30页
        2.2.1 杂散辐射的来源与分类第27-28页
        2.2.2 杂散辐射的常用计算方法第28-30页
    2.3 冷光阑及冷光阑效率第30-32页
第3章 红外探测器杂散辐射抑制技术的研究第32-40页
    3.1 红外系统杂散辐射的抑制方法第32-33页
        3.1.1 采用光阑组合抑制杂散辐射第32页
        3.1.2 采用挡光环结构抑制杂散辐射第32-33页
        3.1.3 采用消杂散辐射涂料抑制杂散辐射第33页
        3.1.4 采用温阑和冷屏相结合的方式抑制杂散辐射第33页
        3.1.5 采用温度控制法抑制杂散辐射第33页
    3.2 理想圆环型挡光环结构的推导第33-36页
        3.2.1 理想圆环型挡光环结构的设计原则第34-35页
        3.2.2 理想圆环型挡光环结构的数学过程第35-36页
    3.3 理想挡光环形状的数学推导第36-40页
第4章 红外制冷探测器杂散辐射抑制的仿真与实验第40-63页
    4.1 ASAP软件的介绍第40-41页
    4.2 红外探测系统的仿真模型第41-42页
    4.3 红外探测系统的表面模型第42-43页
    4.4 光源的模型建立及仿真第43-51页
        4.4.1 采用双光源模型验证冷屏与挡光环结构对杂散辐射的抑制效果第43-49页
        4.4.2 采用平行光光源模型验证挡光环结构对不同入射方向杂散辐射的抑制效果第49-51页
    4.5 探测器焦平面成像均匀性的分析第51-57页
        4.5.1 立体角对探测器焦平面成像均匀性的影响第52-54页
        4.5.2 黑体辐射源对探测器焦平面成像均匀性的影响第54-55页
        4.5.3 探测器焦平面的均匀性分析第55-56页
        4.5.4 采用Emitting光源验证挡光环结构对探测器焦平面成像均匀性的仿真和分析第56-57页
    4.6 红外探测器杂散辐射抑制的实验结果与分析第57-63页
第5章 总结与展望第63-65页
    5.1 总结第63页
    5.2 展望第63-65页
参考文献第65-70页
作者简历及在学期间所取得的科研成果第70页

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