致谢 | 第4-6页 |
摘要 | 第6-7页 |
Abstract | 第7-8页 |
第1章 绪论 | 第11-20页 |
1.1 红外探测技术 | 第11-12页 |
1.2 概述 | 第12-13页 |
1.3 研究现状 | 第13-18页 |
1.3.1 国外研究现状 | 第14-17页 |
1.3.2 国内研究现状 | 第17-18页 |
1.4 研究内容 | 第18-20页 |
第2章 红外探测器杂散辐射分析的基本理论 | 第20-32页 |
2.1 基本理论 | 第20-27页 |
2.1.1 双向散射分布函数 | 第20-21页 |
2.1.2 基本辐射量 | 第21页 |
2.1.3 基本能量传输方程 | 第21-23页 |
2.1.4 黑体辐射 | 第23-25页 |
2.1.5 立体角 | 第25-27页 |
2.2 杂散辐射的产生及抑制 | 第27-30页 |
2.2.1 杂散辐射的来源与分类 | 第27-28页 |
2.2.2 杂散辐射的常用计算方法 | 第28-30页 |
2.3 冷光阑及冷光阑效率 | 第30-32页 |
第3章 红外探测器杂散辐射抑制技术的研究 | 第32-40页 |
3.1 红外系统杂散辐射的抑制方法 | 第32-33页 |
3.1.1 采用光阑组合抑制杂散辐射 | 第32页 |
3.1.2 采用挡光环结构抑制杂散辐射 | 第32-33页 |
3.1.3 采用消杂散辐射涂料抑制杂散辐射 | 第33页 |
3.1.4 采用温阑和冷屏相结合的方式抑制杂散辐射 | 第33页 |
3.1.5 采用温度控制法抑制杂散辐射 | 第33页 |
3.2 理想圆环型挡光环结构的推导 | 第33-36页 |
3.2.1 理想圆环型挡光环结构的设计原则 | 第34-35页 |
3.2.2 理想圆环型挡光环结构的数学过程 | 第35-36页 |
3.3 理想挡光环形状的数学推导 | 第36-40页 |
第4章 红外制冷探测器杂散辐射抑制的仿真与实验 | 第40-63页 |
4.1 ASAP软件的介绍 | 第40-41页 |
4.2 红外探测系统的仿真模型 | 第41-42页 |
4.3 红外探测系统的表面模型 | 第42-43页 |
4.4 光源的模型建立及仿真 | 第43-51页 |
4.4.1 采用双光源模型验证冷屏与挡光环结构对杂散辐射的抑制效果 | 第43-49页 |
4.4.2 采用平行光光源模型验证挡光环结构对不同入射方向杂散辐射的抑制效果 | 第49-51页 |
4.5 探测器焦平面成像均匀性的分析 | 第51-57页 |
4.5.1 立体角对探测器焦平面成像均匀性的影响 | 第52-54页 |
4.5.2 黑体辐射源对探测器焦平面成像均匀性的影响 | 第54-55页 |
4.5.3 探测器焦平面的均匀性分析 | 第55-56页 |
4.5.4 采用Emitting光源验证挡光环结构对探测器焦平面成像均匀性的仿真和分析 | 第56-57页 |
4.6 红外探测器杂散辐射抑制的实验结果与分析 | 第57-63页 |
第5章 总结与展望 | 第63-65页 |
5.1 总结 | 第63页 |
5.2 展望 | 第63-65页 |
参考文献 | 第65-70页 |
作者简历及在学期间所取得的科研成果 | 第70页 |