计算机硬盘和内存存储器的安全销毁与资源化处理
摘要 | 第1-7页 |
ABSTRACT | 第7-9页 |
目录 | 第9-12页 |
第一章 绪论 | 第12-29页 |
·引言 | 第12-13页 |
·电子废弃物与废弃电子设备存储介质 | 第13-16页 |
·信息安全问题 | 第14页 |
·无害化及资源化问题 | 第14-16页 |
·废弃电子设备存储介质安全销毁方法研究进展 | 第16-21页 |
·磁存储介质的安全销毁 | 第16-20页 |
·非磁存储介质的安全销毁 | 第20-21页 |
·废弃电子设备存储介质资源化处理研究进展 | 第21-27页 |
·湿法冶金 | 第21-22页 |
·火法冶金 | 第22-24页 |
·机械-物理回收 | 第24-26页 |
·几种回收方法的比较 | 第26-27页 |
·论文的研究内容与目标 | 第27-29页 |
第二章 研究方法和技术路线 | 第29-35页 |
·引言 | 第29页 |
·原料 | 第29-30页 |
·设备 | 第30-33页 |
·磁场发生设备 | 第30-31页 |
·热除漆设备 | 第31页 |
·磁力显微镜 | 第31-32页 |
·破碎设备 | 第32-33页 |
·分选设备 | 第33页 |
·其他辅助设备 | 第33页 |
·技术路线和研究方法 | 第33-35页 |
第三章 硬盘存储器安全销毁技术研究 | 第35-40页 |
·引言 | 第35页 |
·磁场发生机理 | 第35-36页 |
·磁场消磁法安全销毁机理 | 第36页 |
·消磁效果的量化评价方法 | 第36-37页 |
·磁场消磁法实验研究 | 第37-39页 |
·本章小结 | 第39-40页 |
第四章 废旧硬盘存储器的资源化处理 | 第40-50页 |
·引言 | 第40页 |
·硬盘的组成分析 | 第40-41页 |
·硬盘中铝合金材料的资源化 | 第41-45页 |
·废旧铝合金的除漆方法 | 第41-42页 |
·废旧硬盘外壳热除漆工艺的研究 | 第42-45页 |
·热除漆最佳操作参数 | 第45页 |
·硬盘中其他材料的资源化 | 第45-46页 |
·钕铁硼磁铁 | 第45-46页 |
·音圈马达 | 第46页 |
·印刷电路板 | 第46页 |
·软性电路板 | 第46页 |
·废旧硬盘的综合回收处理技术 | 第46-49页 |
·本章小结 | 第49-50页 |
第五章 半导体型内存存储器安全销毁技术研究 | 第50-67页 |
·引言 | 第50页 |
·半导体存储介质安全销毁方法 | 第50-51页 |
·内存的破碎机理 | 第51-52页 |
·内存的破碎粒度分布研究 | 第52-60页 |
·内存的破碎物料及其分级 | 第52-53页 |
·不同破碎时间下的粒度分布 | 第53-56页 |
·破碎的粒度分布模型 | 第56页 |
·内存破碎的粒度分布模型拟合 | 第56-60页 |
·内存的破碎动力学研究 | 第60-63页 |
·破碎的动力学模型 | 第60-61页 |
·内存的破碎动力学方程的建立 | 第61-63页 |
·内存的破碎能耗研究 | 第63-66页 |
·破碎能耗理论 | 第63-65页 |
·内存的破碎能耗分析 | 第65-66页 |
·本章小结 | 第66-67页 |
第六章 废旧内存存储器的资源化处理 | 第67-89页 |
·引言 | 第67页 |
·内存的组成分析 | 第67-68页 |
·半导体元素形态分析 | 第68-71页 |
·内存破碎物料的高压静电分选 | 第71-74页 |
·高压静电分选的原理 | 第71-72页 |
·内存破碎物料的荷电机理 | 第72-73页 |
·内存破碎物料的受力分析 | 第73-74页 |
·内存破碎物料中二元物料高压静电分选研究 | 第74-84页 |
·导体-绝缘体物料高压静电分选实验 | 第75-78页 |
·半导体-绝缘体物料高压静电分选实验 | 第78-81页 |
·导体-半导体物料高压静电分选实验 | 第81-84页 |
·内存破碎物料三元物料高压静电分选研究 | 第84-88页 |
·二级分选流程 | 第85-86页 |
·三级分选流程 | 第86-88页 |
·本章小结 | 第88-89页 |
结论与展望 | 第89-91页 |
结论 | 第89-90页 |
展望 | 第90-91页 |
参考文献 | 第91-95页 |
致谢 | 第95-96页 |
攻读硕士学位期间已发表或录用的论文 | 第96页 |