基于放电光信息的XPLE-SIR接头界面电痕破坏规律的研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-7页 |
| 目录 | 第7-10页 |
| 1 绪论 | 第10-20页 |
| ·选题背景及意义 | 第10-11页 |
| ·交联聚乙烯电力电缆及硅橡胶接头的概述 | 第11-14页 |
| ·交联聚乙烯电力电缆的概述 | 第11-13页 |
| ·硅橡胶接头的概述 | 第13-14页 |
| ·预制型中间接头潜伏性缺陷及其检测技术研究现状 | 第14-16页 |
| ·预制型中间接头的潜伏性缺陷 | 第14-15页 |
| ·预制型中间接头故障常用检测技术 | 第15-16页 |
| ·交联聚乙烯电缆中间接头沿面放电光研究的意义 | 第16-19页 |
| ·交联聚乙烯电缆中间接头击穿现象 | 第16-17页 |
| ·交联聚乙烯中间接头沿面放电光现象 | 第17-18页 |
| ·有机绝缘界面电痕击穿的研究趋势 | 第18-19页 |
| ·主要内容和技术路线 | 第19-20页 |
| 2 试验系统和界面破坏的一般过程 | 第20-34页 |
| ·实验系统的设计 | 第20-24页 |
| ·高压实验电源的设计 | 第20-21页 |
| ·实验复合样品的设计 | 第21-23页 |
| ·实验平台的设计 | 第23-24页 |
| ·实验步骤 | 第24页 |
| ·界面放电光随时间的变化 | 第24-30页 |
| ·放电初期放电光分布的特点 | 第26-27页 |
| ·放电中期放电光分布的特点 | 第27-28页 |
| ·放电末期放电光分布的特点 | 第28-30页 |
| ·电痕分布随时间的变化 | 第30-31页 |
| ·放电光与电痕分布的关系 | 第31-32页 |
| ·本章小结 | 第32-34页 |
| 3 XLPE-SIR 界面放电光引发特性分析 | 第34-44页 |
| ·电缆接头的绝缘劣化的原因 | 第34-35页 |
| ·界面的绝缘劣化的原因 | 第34-35页 |
| ·界面上的电子导入和界面放电理论 | 第35页 |
| ·界面炭颗粒的形成及对绝缘强度的影响 | 第35-38页 |
| ·碰撞理论 | 第36页 |
| ·光降解理论 | 第36-37页 |
| ·炭颗粒的对绝缘的影响 | 第37-38页 |
| ·界面放电光强度与界面电场分布关系分析 | 第38-39页 |
| ·界面电场分布的计算 | 第39-43页 |
| ·有限元法在静电场计算的基本原理 | 第39-40页 |
| ·界面上无炭颗粒的电场分布计算 | 第40页 |
| ·界面上有炭颗粒时电场分布计算 | 第40-43页 |
| ·本章小结 | 第43-44页 |
| 4 界面压强对界面绝缘击穿的影响 | 第44-52页 |
| ·引言 | 第44页 |
| ·实验 | 第44页 |
| ·分形维数分析方法 | 第44-46页 |
| ·界面压强对界面击穿的影响 | 第46页 |
| ·界面压强对界面放电光的影响 | 第46-50页 |
| ·不同压力下界面放电光的分布 | 第46-48页 |
| ·不同压力下放电光亮度计算 | 第48-50页 |
| ·界面压强对界面炭颗粒的形成的影响 | 第50-51页 |
| ·本章小结 | 第51-52页 |
| 5 硅脂对交联聚乙烯‐硅橡胶界面电痕破坏的影响 | 第52-58页 |
| ·引言 | 第52页 |
| ·实验 | 第52-53页 |
| ·界面硅脂分布对界面击穿的影响 | 第53-56页 |
| ·起始放电距离 | 第53页 |
| ·放电光的分布 | 第53-55页 |
| ·炭颗粒的分布 | 第55-56页 |
| ·界面硅脂对放电的影响及机理 | 第56-57页 |
| ·本章小结 | 第57-58页 |
| 6 全文总结 | 第58-60页 |
| 致谢 | 第60-62页 |
| 参考文献 | 第62-66页 |
| 个人简历、在学期间发表的学术论文及取得的研究成果 | 第66页 |
