高精度光纤陀螺死区分析与抑制方法的研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-10页 |
| 第1章 绪论 | 第10-16页 |
| ·光纤陀螺的分类与发展现状 | 第10-14页 |
| ·光纤陀螺的分类 | 第10-11页 |
| ·光纤陀螺国外发展现状 | 第11-13页 |
| ·光纤陀螺国内发展现状 | 第13-14页 |
| ·光纤陀螺死区问题的研究现状 | 第14-15页 |
| ·本课题研究意义及内容 | 第15-16页 |
| 第2章 数字闭环光纤陀螺基本原理 | 第16-27页 |
| ·光纤陀螺的基本原理和性能指标 | 第16-19页 |
| ·Sagnac 效应 | 第16-18页 |
| ·光纤陀螺主要技术指标 | 第18-19页 |
| ·数字闭环光纤陀螺组成与信号检测原理 | 第19-22页 |
| ·数字闭环光纤陀螺组成 | 第19-20页 |
| ·干涉信号的相位检测原理 | 第20-22页 |
| ·光纤陀螺的调制方式 | 第22-26页 |
| ·方波调制 | 第22-23页 |
| ·四状态调制 | 第23-25页 |
| ·第二闭环控制 | 第25-26页 |
| ·本章小结 | 第26-27页 |
| 第3章 闭环光纤陀螺死区影响因素与产生原因分析 | 第27-43页 |
| ·死区的定义 | 第27-28页 |
| ·电子交叉耦合及其耦合特性 | 第28-30页 |
| ·Y 波导调制特性与调制误差 | 第30-32页 |
| ·光源谱宽特性与光强误差 | 第32-35页 |
| ·寄生效应引起的误差 | 第35-38页 |
| ·瑞利背向散射 | 第36-37页 |
| ·光学克尔效应 | 第37-38页 |
| ·法拉第效应 | 第38页 |
| ·死区产生原因分析 | 第38-42页 |
| ·闭环光纤陀螺的数学模型 | 第38-40页 |
| ·死区的作用途径 | 第40-41页 |
| ·死区产生原因 | 第41-42页 |
| ·死区产生的条件 | 第42页 |
| ·本章小结 | 第42-43页 |
| 第4章 闭环光纤陀螺死区测试 | 第43-54页 |
| ·光纤陀螺阈值的测试 | 第43-45页 |
| ·阈值的测试方法 | 第43-44页 |
| ·阈值的测试系统与坐标系 | 第44-45页 |
| ·阈值测试误差分析 | 第45-50页 |
| ·零偏对阈值测试的影响 | 第45-47页 |
| ·安装误差对阈值测试的影响 | 第47-48页 |
| ·安装误差的测试与计算 | 第48-50页 |
| ·优化的阈值测试方法 | 第50-53页 |
| ·本章小结 | 第53-54页 |
| 第5章 随机过调制分析与实现 | 第54-70页 |
| ·随机调制原理 | 第54-61页 |
| ·随机调制的思想 | 第54-57页 |
| ·调制序列的选取原则 | 第57-59页 |
| ·随机过调制的设计思想 | 第59-61页 |
| ·随机过调制的 FPGA 系统实现 | 第61-65页 |
| ·闭环光纤陀螺 FPGA 系统结构 | 第61页 |
| ·信号处理单元实现 | 第61-62页 |
| ·伪随机模块实现 | 第62-64页 |
| ·时序控制实现 | 第64-65页 |
| ·随机过调制系统测试 | 第65-69页 |
| ·本章小结 | 第69-70页 |
| 结论 | 第70-71页 |
| 参考文献 | 第71-74页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文和取得的科研成果 | 第74-75页 |
| 致谢 | 第75页 |
