基于图像处理的电离层垂测电离图自动度量方法研究
| 摘要 | 第1-7页 |
| Abstract | 第7-11页 |
| 1 引言 | 第11-18页 |
| ·课题研究背景、来源及意义 | 第11-14页 |
| ·国内外研究现状 | 第14-16页 |
| ·论文的主要工作安排 | 第16-18页 |
| 2 电离层垂直探测 | 第18-27页 |
| ·电离层及其探测 | 第18-20页 |
| ·垂直探测 | 第20-22页 |
| ·垂测电离图 | 第22-24页 |
| ·本文算法总体流程 | 第24-26页 |
| ·本章小结 | 第26-27页 |
| 3 电离图预处理 | 第27-36页 |
| ·数据来源及转换 | 第27-28页 |
| ·电离图去噪 | 第28-34页 |
| ·灰度图像形态学处理 | 第28-30页 |
| ·空域滤波去噪 | 第30-31页 |
| ·自动阈值法去噪 | 第31-34页 |
| ·本章小结 | 第34-36页 |
| 4 电离图分割 | 第36-41页 |
| ·有效频带分割 | 第36-37页 |
| ·F 区、E 区划分 | 第37-39页 |
| ·实验与分析 | 第39-40页 |
| ·本章小结 | 第40-41页 |
| 5 电离图识别 | 第41-69页 |
| ·F 区描迹识别及参数判读 | 第41-64页 |
| ·F 区处理总体流程 | 第41-42页 |
| ·F 层二次反射去除 | 第42-46页 |
| ·F 层临频处描迹检测 | 第46-49页 |
| ·F 层临频处描迹识别及参数判读 | 第49-50页 |
| ·F 层主描迹识别与参数判读 | 第50-61页 |
| ·主描迹骨架提取 | 第51-57页 |
| ·主描迹骨架关键点检测 | 第57-59页 |
| ·主描迹 O 波提取 | 第59-60页 |
| ·主描迹参数判读 | 第60-61页 |
| ·实验与分析 | 第61-64页 |
| ·E 区描迹检测 | 第64-68页 |
| ·描迹特点分析 | 第64-65页 |
| ·描迹检测 | 第65-67页 |
| ·实验与分析 | 第67-68页 |
| ·本章小结 | 第68-69页 |
| 6 总结与展望 | 第69-72页 |
| ·本文工作总结 | 第69-70页 |
| ·展望 | 第70-72页 |
| 参考文献 | 第72-77页 |
| 致谢 | 第77-78页 |
| 个人简历、在学期间发表的学术论文与研究成果 | 第78页 |