| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-11页 |
| 第一章 绪论 | 第11-23页 |
| ·研究背景 | 第11-12页 |
| ·多铁性材料的基本性质及研究进展 | 第12-18页 |
| ·铁电性 | 第12-14页 |
| ·铁磁性 | 第14-15页 |
| ·磁电耦合与磁电效应 | 第15-16页 |
| ·多铁性材料的研究进展 | 第16-18页 |
| ·多铁性材料BiFeO_3及研究进展 | 第18-21页 |
| ·本文研究内容 | 第21-23页 |
| 第二章 实验原理与方法 | 第23-35页 |
| ·溶胶凝胶(Sol-Gel)法简介 | 第23-29页 |
| ·溶胶凝胶工艺的发展历史 | 第23-24页 |
| ·溶胶凝胶法的特点 | 第24-25页 |
| ·溶胶凝胶法的类型 | 第25-26页 |
| ·溶胶凝胶法的基本原理 | 第26-28页 |
| ·薄膜的制备方法 | 第28-29页 |
| ·测试分析方法 | 第29-35页 |
| ·差热分析法(DTA) | 第29-30页 |
| ·X射线衍射 | 第30-31页 |
| ·扫描电子显微镜(SEM) | 第31-32页 |
| ·原子力显微镜(AFM) | 第32-33页 |
| ·振动样品磁强计(VSM) | 第33-35页 |
| 第三章 BiFeO_3薄膜的溶胶凝胶法制备 | 第35-55页 |
| ·前驱体溶胶的制备 | 第35-37页 |
| ·药品的选择 | 第35-36页 |
| ·制备前驱体溶液 | 第36-37页 |
| ·BiFeO_3薄膜的制备工艺流程 | 第37-41页 |
| ·仪器装置 | 第37页 |
| ·基片的处理 | 第37-39页 |
| ·BiFeO_3薄膜的制备 | 第39-40页 |
| ·BiFeO_3薄膜预烧结工艺参数的优化 | 第40-41页 |
| ·单相BiFeO_3薄膜的制备 | 第41-48页 |
| ·柠檬酸用量的确定 | 第41-44页 |
| ·pH值的确定 | 第44-46页 |
| ·热处理温度的确定 | 第46-47页 |
| ·热处理时间的确定 | 第47-48页 |
| ·单相BiFeO_3薄膜的分析表征 | 第48-53页 |
| ·扫描电子显微镜(SEM)分析 | 第48-51页 |
| ·原子力显微镜(AFM)分析 | 第51-52页 |
| ·BiFeO_3薄膜的磁性 | 第52-53页 |
| ·本章小结 | 第53-55页 |
| 第四章 A位钕替代的BiFeO_3薄膜的结构及磁性研究 | 第55-63页 |
| ·引言 | 第55-56页 |
| ·钙钛矿结构的替位理论 | 第56页 |
| ·样品的制备和实验方法 | 第56-57页 |
| ·实验结果与讨论 | 第57-61页 |
| ·Nd_xBi_(1-x)FeO_3的晶体结构 | 第57-58页 |
| ·Nd_xBi_(1-x)FeO_3薄膜的磁性研究 | 第58-60页 |
| ·Nd_xBi_(1-x)FeO_3薄膜的AFM分析 | 第60-61页 |
| ·本章小结 | 第61-63页 |
| 第五章 B位铬替代的BiFeO_3薄膜的结构及磁性研究 | 第63-69页 |
| ·引言 | 第63页 |
| ·样品的制备和实验方法 | 第63-64页 |
| ·实验结果与讨论 | 第64-68页 |
| ·BiFe_(1-x)Cr_xO_3的晶体结构 | 第64-65页 |
| ·BiFe_(1-x)Cr_xO_3薄膜的磁性研究 | 第65-67页 |
| ·BiFe_(1-x)Cr_xO_3薄膜的AFM分析 | 第67-68页 |
| ·本章小结 | 第68-69页 |
| 第六章 结论 | 第69-71页 |
| 参考文献 | 第71-75页 |
| 致谢 | 第75页 |
