| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-25页 |
| ·惯性约束聚变与高功率激光驱动器 | 第10-12页 |
| ·惯性约束聚变 | 第10页 |
| ·ICF激光驱动器发展现状 | 第10-12页 |
| ·损伤在线检测研究的意义 | 第12-18页 |
| ·ICF激光驱动器的负载问题 | 第12-13页 |
| ·光学元件激光诱导损伤机理 | 第13-14页 |
| ·光学元件损伤对ICF激光驱动器的影响 | 第14-15页 |
| ·光学元件损伤问题的解决策略 | 第15-16页 |
| ·损伤在线检测的必要性 | 第16-18页 |
| ·聚变激光驱动器损伤在线检测发展与现状 | 第18-23页 |
| ·光学元件损伤检测方法 | 第18-19页 |
| ·国际上光学元件损伤在线检测的现状 | 第19-21页 |
| ·国内光学元件损伤在线检测的研究现状 | 第21-22页 |
| ·光学元件损伤在线检测需要解决的问题 | 第22-23页 |
| ·本论文的研究思路及主要内容 | 第23-25页 |
| 第二章 终端光学元件损伤在线检测总体技术路线研究 | 第25-50页 |
| ·ICF激光驱动器终端集成光机组件 | 第25-26页 |
| ·终端集成光机组件光学元件损伤在线检测的难点分析 | 第26-27页 |
| ·光学元件损伤在线检测方式 | 第27-28页 |
| ·背光相干照明光学元件损伤暗场成像检测技术研究 | 第28-34页 |
| ·背光相干照明光学元件损伤暗场成像检测原理 | 第28-29页 |
| ·背光照明暗场成像的物理过程 | 第29-34页 |
| ·梯度方向匹配光学元件缺陷检测技术研究 | 第34-37页 |
| ·衍射斑产生的理论模型 | 第34-35页 |
| ·衍射斑梯度方向匹配(GDM)损伤检测方法 | 第35-36页 |
| ·衍射斑的提取方法 | 第36-37页 |
| ·全内反射照明暗场成像损伤检测技术研究 | 第37-42页 |
| ·全内反射照明损伤暗场成像检测原理 | 第37页 |
| ·平板光学元件的全内反射照明的产生技术 | 第37-39页 |
| ·全内反射照明光学元件损伤检测信噪比分析模型 | 第39-41页 |
| ·后续损伤元件对光学元件损伤暗场成像检测的影响 | 第41-42页 |
| ·小结 | 第42页 |
| ·靶场终端集成光机组件光学元件损伤检测技术路线研究 | 第42-44页 |
| ·光学元件损伤在线检测总体技术方案研究 | 第44-50页 |
| ·光学元件损伤在线检测原理 | 第44页 |
| ·靶场终端光学元件损伤在线检测总体技术方案 | 第44-45页 |
| ·靶场传输反射镜的损伤在线检测方案 | 第45-46页 |
| ·主放光学元件损伤在线检测系统方案设计 | 第46-47页 |
| ·靶场终端损伤在线检测系统基本构成 | 第47-48页 |
| ·相干照明和非相干照明成像分辨率讨论 | 第48-49页 |
| ·小结 | 第49-50页 |
| 第三章 高分辨多维空间扫描成像关键技术 | 第50-65页 |
| ·高分辨多维空间扫描成像原理 | 第50页 |
| ·成像模块的光学系统方案研究与设计 | 第50-57页 |
| ·成像模块的光路结构分析 | 第50-51页 |
| ·成像模块的光学系统设计结果和像质评价 | 第51-57页 |
| ·成像模块结构总体方案研究 | 第57-65页 |
| ·成像调节与姿态调节结构的技术指标 | 第58页 |
| ·成像模块调节结构的总体设计结果 | 第58页 |
| ·成像模块调节结构的详细设计 | 第58-65页 |
| 第四章 全内反射照明技术研究 | 第65-76页 |
| ·靶场和终端集成光机组件光学元件照明方式 | 第65-66页 |
| ·阵列LED边缘照明 | 第66-70页 |
| ·阵列结构LED的发光数学模型 | 第67-68页 |
| ·防辐射阵列LED条形薄型光源设计 | 第68-69页 |
| ·阵列LED灯条边缘照明光源验证结果和分析 | 第69-70页 |
| ·靶场终端光学元件边缘光纤照明研究与验证 | 第70-76页 |
| ·光纤边缘照明原理 | 第70-72页 |
| ·光纤照明技术实验研究 | 第72-76页 |
| 第五章 基于LASNR增强算法的损伤特征提取与信息挖掘 | 第76-97页 |
| ·损伤图像的特征类别选择 | 第76页 |
| ·形状特征提取和表达方法研究 | 第76-78页 |
| ·基于改进的局部信噪比算法的损伤图像特征提取方法研究 | 第78-81页 |
| ·种子生成方法 | 第78-81页 |
| ·自适应区域种子生长技术 | 第81-84页 |
| ·改进的自适应局部信噪比算法检验 | 第84-86页 |
| ·全口径损伤在线检测损伤点的亚像素分析 | 第86-91页 |
| ·损伤图像特征信息表达 | 第91-93页 |
| ·损伤信息表征 | 第91页 |
| ·"多维属性关系表"的数据信息表征方法 | 第91-93页 |
| ·基于Adaboost机器学习算法的光学元件检测图像理解和决策技术研究 | 第93-95页 |
| ·基于Adaboost的信息分类和决策技术机器学习 | 第94-95页 |
| ·小结 | 第95-97页 |
| 第六章 终端损伤在线检测系统研制与验证 | 第97-108页 |
| ·成像模块研制 | 第97-99页 |
| ·成像模块达到的技术指标 | 第99-100页 |
| ·损伤在线检测实验验证 | 第100-106页 |
| ·验证实验布局 | 第100-101页 |
| ·LED照明全内反射损伤检测验证实验结果 | 第101-102页 |
| ·光纤照明全内反射损伤检测验证实验 | 第102-103页 |
| ·光学元件损伤在线检测损伤尺寸的辐射标定 | 第103-106页 |
| ·结论 | 第106-108页 |
| 第七章 总结和展望 | 第108-111页 |
| 致谢 | 第111-112页 |
| 附录 攻读博士学位期间发表论文、学术活动及获奖情况 | 第112-113页 |
| 参考文献 | 第113-118页 |
