基于混沌序列的SSTDR检测方法研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-13页 |
| ·引言 | 第7页 |
| ·课题的研究背景及意义 | 第7-10页 |
| ·线缆间隙性故障检测定位方法 | 第7-9页 |
| ·SSTDR检测方法的国内外研究现状 | 第9页 |
| ·基于混沌序列的SSTDR检测方法的意义 | 第9-10页 |
| ·论文的主要研究内容和章节安排 | 第10-13页 |
| 第二章 SSTDR检测原理 | 第13-25页 |
| ·SSTDR检测原理 | 第13-15页 |
| ·实现中的关键技术 | 第15-18页 |
| ·信号分离 | 第15页 |
| ·二进制相移键控调制 | 第15-17页 |
| ·相关器 | 第17-18页 |
| ·参数对检测的影响 | 第18-21页 |
| ·相关后的测试信号的信噪比 | 第18-20页 |
| ·PN码周期的改变 | 第20-21页 |
| ·PN码频率的缩放 | 第21页 |
| ·SSTDR检测方法的优势及待解决问题 | 第21-23页 |
| ·本章小结 | 第23-25页 |
| 第三章 混沌理论及其应用 | 第25-43页 |
| ·混沌理论发展的简要历史 | 第25-28页 |
| ·混沌的定义及基本概念 | 第28-30页 |
| ·混沌的定义 | 第28-29页 |
| ·混沌的基本概念 | 第29-30页 |
| ·混沌的识别 | 第30-31页 |
| ·产生混沌的方法 | 第31-35页 |
| ·产生混沌的方法 | 第31-34页 |
| ·典型的混沌动力学方程及映射 | 第34-35页 |
| ·混沌理论的应用现状及前景 | 第35-37页 |
| ·混沌通信理论的研究现状 | 第35-36页 |
| ·混沌的应用前景 | 第36-37页 |
| ·混沌在SSTDR检测中应用的可行性 | 第37-42页 |
| ·本章小节 | 第42-43页 |
| 第四章 基于混沌序列的SSTDR检测方法 | 第43-57页 |
| ·检测系统 | 第43-44页 |
| ·基于混沌序列的SSTDR检测原理 | 第44-49页 |
| ·反射信号分析 | 第45-46页 |
| ·测试信号与线缆中的有效传输信号 | 第46-47页 |
| ·混沌序列的引进 | 第47-49页 |
| ·混沌二进制序列的产生 | 第49-52页 |
| ·混沌实值序列的产生 | 第49-50页 |
| ·混沌二进制序列的产生 | 第50-52页 |
| ·混沌二进制序列产生过程中的问题 | 第52-55页 |
| ·数字混沌序列的产生方法 | 第52-53页 |
| ·数字混沌序列产生过程中的问题 | 第53-55页 |
| ·克服有限精度效应的方法 | 第55页 |
| ·本章小结 | 第55-57页 |
| 第五章 RS485 通信中的间隙性故障检测仿真 | 第57-77页 |
| ·检测原理与仿真框图 | 第57-58页 |
| ·具体仿真 | 第58-70页 |
| ·RS485 通信简介 | 第58页 |
| ·故障设置及分析 | 第58-59页 |
| ·不加噪声时的检测仿真 | 第59-68页 |
| ·加噪声后的检测仿真 | 第68-70页 |
| ·混沌码与PN码的比较 | 第70-73页 |
| ·混沌参数对检测的影响 | 第73-74页 |
| ·混沌参数对相关后的信噪比的影响 | 第73页 |
| ·混沌参数对检测结果的影响的仿真 | 第73-74页 |
| ·可测的间隙性故障持续时间分析 | 第74-75页 |
| ·本章小节 | 第75-77页 |
| 第六章 总结与展望 | 第77-79页 |
| ·本文工作总结 | 第77页 |
| ·展望 | 第77-79页 |
| 致谢 | 第79-81页 |
| 参考文献 | 第81-84页 |
