| 第一章 绪论 | 第1-13页 |
| ·几个相关统计控制技术概念 | 第7-9页 |
| ·统计过程控制(SPC)技术 | 第7页 |
| ·统计公差技术概述 | 第7-9页 |
| ·累积和(CUSUM)控制图简介 | 第9-10页 |
| ·累积和控制图的设计思想 | 第9页 |
| ·累积和控制图的发展进展及现状 | 第9-10页 |
| ·并行设计介绍 | 第10页 |
| ·并行设计思想 | 第10页 |
| ·并行设计技术 | 第10页 |
| ·课题的提出与意义 | 第10-11页 |
| ·主要研究内容和方法 | 第11-12页 |
| ·本章小节 | 第12-13页 |
| 第二章 累积和控制图 | 第13-30页 |
| ·累积和控制图概述 | 第13-14页 |
| ·累积和控制图监控过程均值 | 第14-15页 |
| ·累积和控制图监控过程变差 | 第15-21页 |
| ·累积和控制图的平均运行链长 | 第21-24页 |
| ·面向质量目标的 CUSUM控制图一种参数优化设计方法 | 第24-27页 |
| ·累积和控制图应用改进 | 第27-29页 |
| ·对累积和控制图均值的改进 | 第27-28页 |
| ·与传统控制图相结合，形成组合控制图 | 第28-29页 |
| ·本章小结 | 第29-30页 |
| 第三章 统计公差与累积和控制图并行设计方法研究 | 第30-40页 |
| ·形成面向质量目标的统计公差带的二维界面的基本参数 | 第30-32页 |
| ·制造过程中计量值的质量评价指标 | 第32-33页 |
| ·面向质量目标的统计公差与累积和控制图并行设计 | 第33-39页 |
| ·本章小结 | 第39-40页 |
| 第四章 统计公差与累积和控制图并行设计应用研究 | 第40-47页 |
| ·分组装配的适配率 | 第40-41页 |
| ·面向分组装配适配率的统计公差与累积和控制图并行设计应用 | 第41-46页 |
| ·本章小结 | 第46-47页 |
| 第五章 统计公差与累积和控制图并行设计系统的开发 | 第47-63页 |
| ·系统硬件组成 | 第47-48页 |
| ·数据采集方式 | 第47-48页 |
| ·本系统所用的硬件组成系统 | 第48页 |
| ·系统开发环境和开发工具 | 第48-50页 |
| ·系统的开发环境和开发工具 | 第48页 |
| ·Windows NT操作系统简介 | 第48页 |
| ·C++ Builder 6.0简介 | 第48-49页 |
| ·Microsoft SQL Server 2000简介 | 第49页 |
| ·面向对象的编程技术(OOP) | 第49-50页 |
| ·统计公差与累积和控制图并行设计系统的数据库设计 | 第50-53页 |
| ·数据库结构分析 | 第50-51页 |
| ·数据库物理设计 | 第51-53页 |
| ·系统构成 | 第53-54页 |
| ·系统开发 | 第54-59页 |
| ·数据采集模块 | 第54-56页 |
| ·数据管理模块 | 第56页 |
| ·质量目标确定统计公差模块 | 第56-57页 |
| ·累积和控制图模块 | 第57-59页 |
| ·查询报表 | 第59页 |
| ·系统软件的部分功能与界面的简介 | 第59-62页 |
| ·本章小结 | 第62-63页 |
| 第六章 结论与展望 | 第63-65页 |
| ·结论 | 第63页 |
| ·展望 | 第63-65页 |
| 主要参考文献 | 第65-68页 |
| 硕士期间科研工作和发表的论文 | 第68-69页 |
| 致谢 | 第69页 |
