嵌入式构件化系统Pcanel中的性能测量
| 摘要 | 第1-3页 |
| Abstract | 第3-6页 |
| 第一章 绪论 | 第6-10页 |
| 1．1 研究背景 | 第6-7页 |
| 1．2 研究主体及论文主要工作 | 第7-8页 |
| 1．3 论文的组织结构 | 第8-10页 |
| 第二章 构件化嵌入式系统综述 | 第10-19页 |
| 2．1 嵌入式系统概述 | 第10-15页 |
| 2．1．1 嵌入式系统现状及特点 | 第10-12页 |
| 2．1．2 ARM与XScale介绍 | 第12-15页 |
| 2．2 构件化嵌入式系统综述 | 第15-17页 |
| 2．2．1 构件化思想 | 第15-16页 |
| 2．2．2 构件化概念在嵌入式系统中的应用 | 第16-17页 |
| 2．3 构件系统性能测量 | 第17-19页 |
| 第三章 Pcanel系统的性能研究 | 第19-30页 |
| 3．1 Pcanel构件系统环境 | 第19-22页 |
| 3．1．1 Pcanel系统概述 | 第19-21页 |
| 3．1．2 面向构件的建模 | 第21页 |
| 3．1．3 构件间交互 | 第21-22页 |
| 3．1．4 构件框架组合 | 第22页 |
| 3．2 非功能性需求分析 | 第22-24页 |
| 3．2．1 Pcanel中的性能瓶颈 | 第23页 |
| 3．2．2 框架对构件行为的控制 | 第23-24页 |
| 3．3 构件系统性能指标 | 第24-25页 |
| 3．3．1 系统占用时间比与热点构件 | 第24-25页 |
| 3．3．2 响应时间与关键构件 | 第25页 |
| 3．4 定位性能瓶颈的主要技术 | 第25-26页 |
| 3．4．1 采样技术 | 第26页 |
| 3．4．2 调用图技术 | 第26页 |
| 3．4．3 计数器监测技术 | 第26页 |
| 3．5 可测量的构件化系统 | 第26-30页 |
| 3．5．1 可测量框架的形式化描述 | 第26-28页 |
| 3．5．2 构件框架可测量接口的跟踪 | 第28-30页 |
| 第四章 性能测量子系统设计 | 第30-37页 |
| 4．1 总体设计 | 第30-31页 |
| 4．2 前端设计 | 第31-35页 |
| 4．2．1 中断采样的设计 | 第31-33页 |
| 4．2．2 构件交互监测的设计 | 第33-34页 |
| 4．2．3 监测性能参数的设计 | 第34-35页 |
| 4．3 后端设计 | 第35-37页 |
| 第五章 性能数据采集 | 第37-49页 |
| 5．1 数据采集的实现 | 第37-47页 |
| 5．1．1 中断采样 | 第37-42页 |
| 5．1．2 构件交互 | 第42-46页 |
| 5．1．3 监测性能参数 | 第46-47页 |
| 5．2 实例研究：对解压缩过程的性能数据采集 | 第47-49页 |
| 第八章 性能数据还原显示 | 第49-61页 |
| 6．1 性能数据合并 | 第49-55页 |
| 6．1．1 采样记录文件格式 | 第49-53页 |
| 6．1．2 构件记录文件格式 | 第53页 |
| 6．1．3 构件交互记录文件格式 | 第53-54页 |
| 6．1．4 性能参数记录文件格式 | 第54页 |
| 6．1．5 性能数据分析合并 | 第54-55页 |
| 6．2 性能数据分析显示 | 第55-58页 |
| 6．2．1 中断采样视图 | 第56-57页 |
| 6．2．2 构件交互视图 | 第57-58页 |
| 6．2．3 性能参数视图 | 第58页 |
| 6．3 实例研究：对解压缩过程性能数据的分析显示 | 第58-61页 |
| 第七章 总结与展望 | 第61-63页 |
| 参考资料 | 第63-65页 |
| 致谢 | 第65页 |
