| 图目录 | 第1-8页 |
| 表目录 | 第8-9页 |
| 摘要 | 第9-10页 |
| ABSTRACT | 第10-12页 |
| 第一章 绪论 | 第12-25页 |
| ·课题背景 | 第12页 |
| ·EStar微处理器简介 | 第12-13页 |
| ·可测性设计技术基本概述 | 第13-17页 |
| ·测试的概念 | 第14-15页 |
| ·测试的分类及 SOC测试标准 | 第15-17页 |
| ·片上调试基本概念 | 第17-20页 |
| ·嵌入式系统调试的基本概念 | 第17-19页 |
| ·嵌入式系统调试技术分类 | 第19-20页 |
| ·相关研究 | 第20-23页 |
| ·测试技术 | 第20页 |
| ·片上调试技术 | 第20-23页 |
| ·本文的主要工作 | 第23页 |
| ·论文结构 | 第23-25页 |
| 第二章 嵌入式微处理器可测性设计技术的研究与实现 | 第25-45页 |
| ·可测性设计技术简介及其分类 | 第25-27页 |
| ·内部扫描测试技术 | 第25-26页 |
| ·边界扫描技术 | 第26页 |
| ·内建自测试技术 | 第26-27页 |
| ·边界扫描测试 | 第27-37页 |
| ·IEEE 1149.1标准 | 第27-32页 |
| ·EStar边界扫描设计与实现 | 第32-37页 |
| ·内部扫描测试 | 第37-42页 |
| ·内部扫描测试的基本概念 | 第37-39页 |
| ·EStar的内部全扫描设计 | 第39-41页 |
| ·EStar内部全扫描覆盖率和代价分析 | 第41-42页 |
| ·存储器内建自测试 | 第42-44页 |
| ·存储内建自测试的基本原理 | 第42-43页 |
| ·EStar片上存储器的内建自测试设计 | 第43-44页 |
| ·本章小结 | 第44-45页 |
| 第三章 嵌入式微处理器片上调试技术的研究与实现 | 第45-64页 |
| ·嵌入式系统调试基本原理 | 第45-46页 |
| ·IEEE-ISTO 5001片上调试标准 | 第45-46页 |
| ·EStar处理器片上调试系统设计与实现 | 第46-57页 |
| ·片上调试系统的总体结构 | 第46-47页 |
| ·片上调试系统的接口部件 | 第47-51页 |
| ·片上调试系统的运行控制部件 | 第51-55页 |
| ·片上调试系统的存储访问部件 | 第55-57页 |
| ·EStar处理器片上调试系统工作原理 | 第57-59页 |
| ·单步的实现过程 | 第57页 |
| ·断点和观察点的工作机制 | 第57-58页 |
| ·断点误停的处理 | 第58页 |
| ·存储访问的工作过程 | 第58-59页 |
| ·EStar处理器片上调试系统的验证 | 第59-62页 |
| ·调试系统验证的基本方案 | 第59-60页 |
| ·基于 PC机并口的协议完整性验证 | 第60-61页 |
| ·片上调试设计代价与性能分析 | 第61-62页 |
| ·本章小结 | 第62-64页 |
| 第四章 嵌入式调试应用软件的研究与设计 | 第64-76页 |
| ·嵌入式调试软件概述 | 第64-65页 |
| ·几种常见的嵌入式调试软件 | 第65-68页 |
| ·Keil公司的 Keil C51和uVision | 第65-66页 |
| ·ARM公司的SDT和 ADS | 第66-67页 |
| ·TI公司的 CCS | 第67-68页 |
| ·基于 EStar片上调试支持的调试软件设计 | 第68-75页 |
| ·调试软件方案及可行性 | 第68页 |
| ·调试应用软件总体设计 | 第68-69页 |
| ·EStar OCD仿真器的设计 | 第69-73页 |
| ·EStar扩展调试器设计 | 第73-74页 |
| ·EStar IDE的用户接口设计 | 第74-75页 |
| ·本章小结 | 第75-76页 |
| 第五章 结束语 | 第76-78页 |
| ·本文工作总结 | 第76-77页 |
| ·可测性设计方面 | 第76页 |
| ·片上调试方面 | 第76页 |
| ·嵌入式调试软件方面 | 第76-77页 |
| ·下一步的工作 | 第77-78页 |
| 致谢 | 第78-79页 |
| 攻读硕士期间发表的论文 | 第79-80页 |
| 参考文献 | 第80-82页 |
| 附录 攻读硕士期间参加的科研项目 | 第82页 |