低功耗存储器设计研究及在ROM中的实现
| 目录 | 第1-6页 |
| 图目录 | 第6-8页 |
| 表目录 | 第8-9页 |
| 摘要 | 第9-10页 |
| ABSTRACT | 第10-11页 |
| 第一章 绪论 | 第11-15页 |
| ·课题研究背景 | 第11-12页 |
| ·相关研究 | 第12-13页 |
| ·本文的主要工作 | 第13-14页 |
| ·本文的结构 | 第14-15页 |
| 第二章 低功耗存储器相关理论 | 第15-31页 |
| ·存储器实现结构及功耗来源 | 第15-22页 |
| ·存储器总体结构 | 第15-16页 |
| ·存储器中功耗来源 | 第16-22页 |
| ·低功耗存储器设计技术分析 | 第22-30页 |
| ·降低充电电容的技术 | 第22-27页 |
| ·脉冲式操作技术 | 第27-28页 |
| ·电荷复用技术 | 第28-30页 |
| ·本章小节 | 第30-31页 |
| 第三章 低功耗ROM设计 | 第31-49页 |
| ·ROM低功耗技术 | 第31-34页 |
| ·ROM低功耗技术分析 | 第31-32页 |
| ·带充电补偿电路的选择性预充电结构 | 第32-34页 |
| ·低功耗ROM总体设计 | 第34-37页 |
| ·接口定义 | 第34页 |
| ·时序设计 | 第34页 |
| ·总体结构 | 第34-37页 |
| ·电路实现及分析优化 | 第37-47页 |
| ·输入锁存器结构及地址建立时间 | 第37页 |
| ·存储单元尺寸确定 | 第37-38页 |
| ·译码器优化 | 第38-43页 |
| ·时钟驱动单元实现 | 第43-45页 |
| ·预充电补偿管的尺寸确定 | 第45-47页 |
| ·功耗分析结果 | 第47-48页 |
| ·本章小节 | 第48-49页 |
| 第四章 低功耗ROM版图设计 | 第49-59页 |
| ·引言 | 第49-50页 |
| ·ROM版图布局规划 | 第50-51页 |
| ·ROM版图设计 | 第51-56页 |
| ·单元模块版图设计 | 第52-55页 |
| ·整体版图拼接 | 第55-56页 |
| ·版图模拟及对比分析 | 第56-58页 |
| ·本章小节 | 第58-59页 |
| 第五章 ROM功能验证与性能测试 | 第59-69页 |
| ·测试方案 | 第59-61页 |
| ·功能测试 | 第59页 |
| ·地址建立时间测试 | 第59-60页 |
| ·高频运行测试 | 第60-61页 |
| ·测试实现 | 第61-63页 |
| ·测试台测试 | 第61-62页 |
| ·PCB板测试系统 | 第62页 |
| ·测试PCB板设计 | 第62-63页 |
| ·IP核测试方法研究 | 第63-68页 |
| ·IP核投片测试的难题 | 第63-64页 |
| ·扫描测试思想 | 第64-65页 |
| ·扫描测试电路实现 | 第65-68页 |
| ·本章小节 | 第68-69页 |
| 第六章 结束语 | 第69-70页 |
| ·课题工作总结 | 第69页 |
| ·工作展望 | 第69-70页 |
| 致谢 | 第70-71页 |
| 攻读硕士期间发表的论文 | 第71-72页 |
| 参考文献 | 第72-73页 |
