| 第一章 绪论 | 第1-22页 |
| ·颗粒测量的重要性 | 第8-9页 |
| ·颗粒的粒度和粒度分布概念 | 第9页 |
| ·颗粒测量的主要方法及特点 | 第9-20页 |
| ·筛分法 | 第10-11页 |
| ·显微镜法 | 第11页 |
| ·沉降法 | 第11-13页 |
| ·电感应法 | 第13-15页 |
| ·光散射法 | 第15-20页 |
| ·本论文的目的和主要工作 | 第20-22页 |
| 第二章 颗粒测量中的光散射理论 | 第22-31页 |
| ·颗粒的光散射理论 | 第22页 |
| ·Mie 散射理论 | 第22-31页 |
| ·Mie 散射基本公式 | 第22-24页 |
| ·Mie 散射光强的计算 | 第24-27页 |
| ·Mie 散射的近似 | 第27-31页 |
| 第三章 基于光散射原理的尘埃粒子计数器系统设计和实验 | 第31-48页 |
| ·直角散射光学传感器 | 第32-35页 |
| ·光散射传感器的选择 | 第32-33页 |
| ·光散射传感器结构 | 第33-35页 |
| ·电路系统 | 第35-37页 |
| ·主放大电路 | 第35-36页 |
| ·离散数据采集电路 | 第36-37页 |
| ·气路系统 | 第37-40页 |
| ·气路概述 | 第38-39页 |
| ·AWM5102 的原理及使用 | 第39-40页 |
| ·单片机系统 | 第40-42页 |
| ·系统标定与实验 | 第42-48页 |
| ·系统标定 | 第42-43页 |
| ·实验结果 | 第43-48页 |
| 第四章 微纳颗粒综合分析及测试平台 | 第48-57页 |
| ·平台的构成和技术参数 | 第48-51页 |
| ·体视显微系统 | 第48-49页 |
| ·电动调节架 | 第49-50页 |
| ·图像采集系统 | 第50-51页 |
| ·测试方法设计及分析 | 第51-55页 |
| ·显微图像识别法 | 第51页 |
| ·光散射与光流场分析相结合的测试方法 | 第51-55页 |
| ·微流体通道加工实验 | 第55-57页 |
| 第五章 总结与展望 | 第57-59页 |
| ·论文工作总结 | 第57页 |
| ·今后的工作 | 第57-59页 |
| 参考文献 | 第59-62页 |
| 发表论文和参加科研情况说明 | 第62-63页 |
| 致谢 | 第63页 |