超导腔垂直测量系统研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-7页 |
| 1 绪论 | 第7-10页 |
| ·引言 | 第7页 |
| ·超导腔技术概述 | 第7-8页 |
| ·论文研究背景和主要研究内容 | 第8-10页 |
| 2 超导基本知识 | 第10-15页 |
| ·引言 | 第10页 |
| ·超导体的基本特性及参数 | 第10-12页 |
| ·BCS理论与超导高频电阻 | 第12-14页 |
| ·小结 | 第14-15页 |
| 3 超导腔参数指标 | 第15-23页 |
| ·引言 | 第15页 |
| ·剩余电阻率比 | 第15-16页 |
| ·高频表面电阻 | 第16-17页 |
| ·品质因数 | 第17-18页 |
| ·几何因子 | 第18页 |
| ·分路阻抗 | 第18-19页 |
| ·加速梯度 | 第19-20页 |
| ·限制超导腔性能提高的因素及解决方法 | 第20-22页 |
| ·小结 | 第22-23页 |
| 4 超导腔垂直测量原理 | 第23-31页 |
| ·引言 | 第23页 |
| ·有载品质因数 | 第23-25页 |
| ·无载品质因数 | 第25-29页 |
| ·加速梯度、表面电阻与品质因数的关系 | 第29页 |
| ·垂直测量的步骤 | 第29-30页 |
| ·小结 | 第30-31页 |
| 5 垂直测量系统总体组成 | 第31-41页 |
| ·引言 | 第31-32页 |
| ·表面处理 | 第32-34页 |
| ·真空系统 | 第34-35页 |
| ·液氦抽气减压降温系统 | 第35-36页 |
| ·磁屏蔽系统 | 第36-37页 |
| ·高频低电平控制与测量系统 | 第37-40页 |
| ·小结 | 第40-41页 |
| 6 高频低电平控制与测量系统的软、硬件实现 | 第41-55页 |
| ·引言 | 第41页 |
| ·硬件实现 | 第41-45页 |
| ·高频低电平控制系统的软件实现 | 第45-54页 |
| ·小结 | 第54-55页 |
| 7 全文总结 | 第55-56页 |
| 致谢 | 第56-57页 |
| 参考文献 | 第57-60页 |
| 附录Ⅰ:攻读硕士学位期间发表的论文 | 第60页 |
| 附录Ⅱ:实验中使用的测量仪器 | 第60页 |
