| 中文摘要 | 第1-7页 |
| 英文摘要 | 第7-9页 |
| 1 绪论 | 第9-25页 |
| ·铁电材料的基本特性 | 第9-11页 |
| ·铁电材料的主要晶体类型 | 第11-13页 |
| ·简单钙钛矿型铁电体 | 第12页 |
| ·层状钙钛矿型铁电体 | 第12-13页 |
| ·铁电材料的应用 | 第13-16页 |
| ·铁电存储器 | 第14-15页 |
| ·红外探测器 | 第15页 |
| ·微电子机械系统(MEMS) | 第15-16页 |
| ·声表面波器件 | 第16页 |
| ·铁电材料的发展 | 第16-18页 |
| ·本文研究的主要内容与方法 | 第18-25页 |
| 2 样品制备和性能测试分析 | 第25-32页 |
| ·引言 | 第25页 |
| ·Sr_2Bi_4Ti_5O_(18)陶瓷样品的制备 | 第25-26页 |
| ·Sr_2Bi_4Ti_5O_(18)陶瓷样品的结构和性能测试 | 第26-30页 |
| ·X射线衍射谱 | 第26页 |
| ·扫描电子显微照片 | 第26-27页 |
| ·铁电性能测试 | 第27-28页 |
| ·介电性能测试 | 第28-30页 |
| ·本章小结 | 第30-32页 |
| 3 A位掺杂Sr_2Bi_4Ti_5O_(18)陶瓷的铁电介电性能 | 第32-46页 |
| ·引言 | 第32-33页 |
| ·实验方法 | 第33页 |
| ·Sr_2Bi_(4-x)La_xTi_5O_(18)陶瓷样品的结构和性能 | 第33-40页 |
| ·X射线衍射分析 | 第33-34页 |
| ·SEM微观结构照片 | 第34-35页 |
| ·铁电性能 | 第35页 |
| ·介电性能 | 第35-36页 |
| ·La取代对Sr_2Bi_4Ti_5O_(18)结构、性能的影响机制 | 第36-40页 |
| ·Sr_2Bi_(4-x)Nd_xTi_5O_(18)陶瓷样品的结构和性能 | 第40-42页 |
| ·X射线衍射分析 | 第40页 |
| ·介电性能 | 第40-41页 |
| ·铁电性能 | 第41-42页 |
| ·La、Nd掺杂对铁电性能影响之比较 | 第42页 |
| ·本章小结 | 第42-46页 |
| 4 Sr_(2-x)Bi_(4+x)Ti_5O_(18)的铁电介电性能 | 第46-55页 |
| ·引言 | 第46-47页 |
| ·实验方法 | 第47页 |
| ·结果与讨论 | 第47-52页 |
| ·X射线衍射谱 | 第47-48页 |
| ·Sr_2Bi_4Ti_5O_(18)的介电损耗 | 第48-49页 |
| ·Sr_(2-x)Bi_(4+x)Ti_5O_(18)的介电性能 | 第49-50页 |
| ·Sr_(2-x)Bi_(4+x)Ti_5O_(18)的铁电性能 | 第50-52页 |
| ·本章小结 | 第52-55页 |
| 5 B位掺杂对Sr_2Bi_4Ti_5O_(18)性能的影响 | 第55-67页 |
| ·引言 | 第55-56页 |
| ·实验方法 | 第56页 |
| ·Sr_2Bi_(4-x／3)Ti_(5-x)V_xO_(18)的结构与性能 | 第56-60页 |
| ·X射线衍射分析 | 第56-57页 |
| ·铁电性能 | 第57-58页 |
| ·介电性能 | 第58-60页 |
| ·SEM微观结构照片 | 第60页 |
| ·Sr2Bi_(4-x／3)Ti_(5-x)Nb_xO_(18)的结构与性能 | 第60-63页 |
| ·X射线衍射分析 | 第60-61页 |
| ·铁电性能 | 第61页 |
| ·介电性能 | 第61-63页 |
| ·Sr_2Bi_(4-2x／3)Ti_(5-x)W_xO_(18)的结构与性能 | 第63-65页 |
| ·X射线衍射分析 | 第63页 |
| ·铁电性能 | 第63-64页 |
| ·介电性能 | 第64-65页 |
| ·本章小结 | 第65-67页 |
| 6 工作总结 | 第67-69页 |
| 研究生期间已发表和待发表的论文 | 第69-71页 |
| 致谢 | 第71页 |
