| 中文摘要 | 第1-5页 |
| 英文摘要 | 第5-8页 |
| 第1章 绪论 | 第8-18页 |
| 1．1 课题背景 | 第8-10页 |
| 1．2 国内外技术概况及发展趋势 | 第10-13页 |
| 1．2．1 国外技术概况及发展趋势 | 第10-12页 |
| 1．2．2 国内技术概况及发展趋势 | 第12-13页 |
| 1．3 测量烟气中二氧化硫浓度的方法 | 第13-16页 |
| 1．3．1 电导法 | 第13-14页 |
| 1．3．2 电量法 | 第14页 |
| 1．3．3 极谱测定法 | 第14页 |
| 1．3．4 比色法 | 第14-15页 |
| 1．3．5 火焰光度法 | 第15-16页 |
| 1．4 本文主要研究内容 | 第16-18页 |
| 第2章 紫外荧光法测量二氧化硫原理 | 第18-28页 |
| 2．1 荧光产生机理 | 第18-20页 |
| 2．1．1 物质分子的光激发和衰变 | 第18-19页 |
| 2．1．2 二氧化硫的分子结构 | 第19-20页 |
| 2．2 荧光分析法的理论基础 | 第20-22页 |
| 2．3 紫外荧光法测量二氧化硫的理论基础 | 第22-27页 |
| 2．4 本章小结 | 第27-28页 |
| 第3章 二氧化硫浓度与荧光信号的关系的实验论证 | 第28-39页 |
| 3．1 紫外荧光法测量二氧化硫浓度的测量装置 | 第28-32页 |
| 3．1．1 Hideo Okabe等研制的二氧化硫测量装置 | 第28-30页 |
| 3．1．2 Frederick P．Schwarz等研制的二氧化硫测量装置 | 第30-32页 |
| 3．2 测量仪器原理 | 第32-34页 |
| 3．3 样气的获取 | 第34-35页 |
| 3．4 二氧化硫浓度与荧光信号的线性关系 | 第35-38页 |
| 3．5 本章小结 | 第38-39页 |
| 第4章 紫外荧光法测二氧化硫浓度的系统设计 | 第39-58页 |
| 4．1 紫外荧光法测二氧化硫浓度的气路系统设计 | 第39-41页 |
| 4．2 紫外荧光法测二氧化硫浓度的光路系统设计 | 第41-47页 |
| 4．2．1 光源 | 第42-43页 |
| 4．2．2 透镜 | 第43页 |
| 4．2．3 滤光片 | 第43-44页 |
| 4．2．4 斩波器 | 第44-45页 |
| 4．2．5 光阑 | 第45页 |
| 4．2．6 光反应室 | 第45-46页 |
| 4．2．7 光电倍增管（PMT） | 第46-47页 |
| 4．3 紫外荧光法测二氧化硫浓度的电路系统设计 | 第47-52页 |
| 4．3．1 信号分析器 | 第47-48页 |
| 4．3．2 信号分析器的具体线路 | 第48-52页 |
| 4．4 结果与分析 | 第52-56页 |
| 4．4．1 样气浓度与荧光信号的关系 | 第52-53页 |
| 4．4．2 样气流量对测量的影响 | 第53-54页 |
| 4．4．3 温度对测量的影响 | 第54-55页 |
| 4．4．4 光源光强波动对荧光信号的影响 | 第55-56页 |
| 4．5 本章小结 | 第56-58页 |
| 第5章 双光路系统研究 | 第58-71页 |
| 5．1 双路差分比较下浓度与信号的关系 | 第58-60页 |
| 5．2 双路差分比较下对测量的影响因素 | 第60-66页 |
| 5．2．1 双路差分比较下温度对测量的影响 | 第60-63页 |
| 5．2．2 双路差分比较下光源光强波动对测量的影响 | 第63-66页 |
| 5．3 消除温度、光源光强波动对测量影响的新思路 | 第66-69页 |
| 5．3．1 光源光强波动影响的消除 | 第66-67页 |
| 5．3．2 温度变化影响的消除 | 第67页 |
| 5．3．3 温度变化和光源光强波动影响的再考虑 | 第67-69页 |
| 5．4 本章小结 | 第69-71页 |
| 结论 | 第71-72页 |
| 参考文献 | 第72-76页 |
| 攻读硕士学位期间所发表的论文 | 第76-77页 |
| 致谢 | 第77页 |
