| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-6页 |
| 目录 | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-14页 |
| ·全息术的发展史及其目前在国内外的发展概况 | 第7-9页 |
| ·全息干涉计量术的基本理论 | 第9-11页 |
| ·基于CCD/LCD的全息干涉计量系统的特点与应用 | 第11-12页 |
| ·本论文的主要工作和内容 | 第12-14页 |
| 第二章 双曝光全息干涉术测量物体变形和位移的基础理论 | 第14-21页 |
| ·双曝光全息干涉术的基本原理 | 第14-15页 |
| ·物体变形或位移与位相的数学关系 | 第15-18页 |
| ·双曝光法测物体变形和位移 | 第18-21页 |
| 第三章 CCD在双曝光全息干涉术中的应用研究 | 第21-33页 |
| ·电荷耦合器件CCD的结构和工作原理 | 第21-22页 |
| ·CCD记录全息图的基本原理 | 第22-26页 |
| ·CCD记录条件的研究 | 第26-31页 |
| ·采用CCD记录全息图的实验装置和实验结果 | 第31-33页 |
| 第四章 LCD在双曝光全息干涉术中的应用研究 | 第33-45页 |
| ·液晶显示器LCD | 第33-36页 |
| ·TFT-LCD的像素结构和黑栅效应 | 第36-38页 |
| ·基于LCD的全息再现原理 | 第38-40页 |
| ·全息图的预处理 | 第40-43页 |
| ·实验装置和结果记录 | 第43-45页 |
| 第五章 干涉条纹数字化处理的基本原理和方法 | 第45-53页 |
| ·干涉条纹数字化自动分析处理的条纹中心线法 | 第45-47页 |
| ·相位分析技术 | 第47-51页 |
| ·傅立叶变换方法分析相位的基本原理 | 第51-53页 |
| 总结与展望 | 第53-55页 |
| 致谢 | 第55-56页 |
| 参考文献 | 第56-58页 |