金属板材X射线测厚信号处理及上位机监测
| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-5页 |
| 目录 | 第5-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-15页 |
| ·课题来源及研究目的与意义 | 第7-8页 |
| ·国内外研究现状和发展趋势 | 第8-13页 |
| ·金属板材射线测厚技术的发展 | 第8-9页 |
| ·射线信号探测系统的发展及应用 | 第9-10页 |
| ·X射线探测器的在线监测与数据处理 | 第10-13页 |
| ·本文研究的主要任务和内容结构 | 第13-15页 |
| ·本文主要研究任务 | 第13页 |
| ·本文内容结构 | 第13-15页 |
| 第二章 X射线板材测厚工作机理分析与实现 | 第15-21页 |
| ·X射线板材测厚工作机理 | 第15-18页 |
| ·X射线的本质特性 | 第15-16页 |
| ·X射线测厚工作机理 | 第16-18页 |
| ·检测系统的功能需求 | 第18-19页 |
| ·检测系统的结构组成与总体方案 | 第19-20页 |
| ·检测系统的结构组成 | 第19-20页 |
| ·检测系统的总体方案 | 第20页 |
| ·本章小结 | 第20-21页 |
| 第三章 X射线测厚信号的检测与处理 | 第21-33页 |
| ·X射线测厚信号接收装置 | 第21-25页 |
| ·NaI闪烁探测器的特性分析 | 第22-23页 |
| ·光电倍增管的功能 | 第23-24页 |
| ·前置放大器功能 | 第24页 |
| ·信号处理电路设计 | 第24-25页 |
| ·X射线测厚的标定分析 | 第25-28页 |
| ·标定原理 | 第25-26页 |
| ·曲线拟合 | 第26-28页 |
| ·X射线测厚信号的补偿 | 第28-29页 |
| ·合金补偿 | 第28页 |
| ·温度检测与补偿 | 第28-29页 |
| ·下位机数据处理 | 第29-32页 |
| ·本章小节 | 第32-33页 |
| 第四章 X射线测厚系统的上位机监测与管理 | 第33-51页 |
| ·RS-485总线的串行接口技术 | 第33-34页 |
| ·基于 RS-485总线的通信系统硬件设计 | 第34-37页 |
| ·通信系统的结构组成 | 第34-35页 |
| ·RS-485总线收发电路 | 第35-36页 |
| ·RS-232/RS-485转换电路 | 第36-37页 |
| ·基于 RS-485总线的通信协议设计 | 第37-41页 |
| ·主从式总线访问控制结构 | 第37-38页 |
| ·上下位机通信协议 | 第38-39页 |
| ·下位机的程序设计 | 第39-41页 |
| ·RS-485总线通信抗干扰设计 | 第41-42页 |
| ·系统通信硬件抗干扰措施 | 第41-42页 |
| ·系统通信软件抗干扰措施 | 第42页 |
| ·监测软件设计 | 第42-50页 |
| ·开发平台的选择 | 第42-43页 |
| ·上位机监测的需求分析 | 第43页 |
| ·上位机监测软件功能模块划分 | 第43-44页 |
| ·后台服务程序与数据库的设计 | 第44-46页 |
| ·监测界面设计 | 第46-50页 |
| ·本章小结 | 第50-51页 |
| 第五章 实验与结果分析 | 第51-58页 |
| ·实验设备 | 第51页 |
| ·实验过程 | 第51-57页 |
| ·硬件实验 | 第51-53页 |
| ·监控软件模拟实验 | 第53-57页 |
| ·实验结果分析 | 第57页 |
| ·本章小结 | 第57-58页 |
| 第六章 总结 | 第58-59页 |
| 参考文献 | 第59-62页 |
| 致谢 | 第62-63页 |
| 攻读硕士学位期间的研究成果 | 第63页 |
