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VLSI受工艺参数扰动影响的若干问题研究

摘要第1-7页
Abstract第7-9页
目录第9-12页
1 绪论第12-30页
   ·选题背景与意义第12-13页
   ·工艺参数扰动对VLSI的影响第13-17页
     ·工艺参数扰动对互连线的影响第13-15页
     ·工艺参数扰动对参数成品率估计与优化的影响第15-16页
     ·工艺参数扰动对集成电路标称值设计优化的影响第16-17页
   ·VLSI工艺参数扰动问题的研究现状第17-27页
     ·互连线工艺参数扰动问题的研究现状第17-22页
       ·确定性模型的研究现状第18-20页
       ·工艺参数扰动问题的研究现状第20-22页
     ·参数成品率估计与优化中工艺参数扰动问题的研究现状第22-24页
     ·集成电路标称值设计优化中工艺参数扰动问题的研究现状第24-27页
   ·论文组织结构第27页
   ·主要工作与创新点第27-30页
2 均匀耦合互连线的传输性能分析第30-44页
   ·去耦方法第31-34页
   ·均匀耦合互连线的串扰噪声分析第34-37页
     ·互连线串扰噪声估计第35页
     ·实验分析第35-37页
   ·均匀耦合互连线的互连时延估计第37-42页
     ·斜阶跃信号激励下的互连时延估计第38-40页
     ·实验分析第40-42页
   ·本章小结第42-44页
3 工艺参数扰动下互连线传输性能的随机谱分析第44-78页
   ·相关理论概述第44-50页
     ·多项式混沌展开理论第45-46页
     ·随机谱方法第46-49页
       ·随机伽辽金方法第46-48页
       ·随机点匹配方法第48-49页
     ·积分配置点选取方法第49-50页
       ·直接张量基策略第49页
       ·稀疏网格策略第49-50页
   ·工艺参数扰动下的耦合互连线传输性能分析第50-77页
     ·耦合互连线随机建模第51-52页
     ·工艺参数扰动下耦合互连线的去耦方法第52-54页
     ·建立互连线节点分析方程第54-55页
     ·基于随机伽辽金方法的传输性能分析第55-62页
       ·传输性能的理论分析第55-58页
       ·实验分析第58-62页
     ·基于随机点匹配方法的传输性能分析第62-69页
       ·传输性能的理论分析第62-64页
       ·实验分析第64-69页
     ·方法执行效率分析第69-70页
     ·基于多互连线耦合的互连时延分析第70-77页
       ·多互连线耦合模型第70-71页
       ·多耦合互连线时延估计第71-74页
       ·实验分析第74-77页
   ·本章小节第77-78页
4 工艺参数扰动下芯片参数成品率的多目标优化第78-100页
   ·相关理论概述第78-92页
     ·切比雪夫仿射技术第78-81页
     ·基于切比雪夫仿射技术的边界估计第81-88页
       ·P-box表示法第81-82页
       ·基于切比雪夫逼近的P-box线性化第82-83页
       ·仿射计算的PLPB边界求解第83-88页
     ·基于自适应加权求和方法的多目标优化第88-92页
       ·帕雷托优化问题第88页
       ·自适应加权求和优化方法第88-92页
   ·芯片参数成品率多目标优化第92-96页
     ·漏电功耗及芯片时延模型第92-94页
       ·漏电功耗模型第92-93页
       ·芯片时延模型第93-94页
     ·基于切比雪夫仿射理论的成品率多目标优化第94-96页
   ·实验分析第96-99页
   ·本章小节第99-100页
5 工艺参数扰动下集成电路标称值设计优化第100-114页
   ·参数域鲁棒性及性能域鲁棒性第100-106页
     ·扰动系统模型第100-101页
     ·参数域鲁棒性第101-105页
     ·性能域鲁棒性第105-106页
   ·基于SURROGATES的设计空间优化第106-109页
     ·鲁棒优化模型第106-107页
     ·替代模型处理框架(SMF)第107-108页
     ·基于Surrogates的优化求解第108-109页
   ·实验分析第109-113页
   ·本章小结第113-114页
6 结论与展望第114-118页
致谢第118-120页
参考文献第120-140页
附录A:攻读博士期间发表及在审的论文第140页

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