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半导体纳米墙阵列的设计及光电学性能研究

中文摘要第3-5页
Abstract第5-6页
第一章 绪论第10-22页
    1.1 引言第10页
    1.2 薄膜太阳电池简介第10-12页
    1.3 光管理结构在太阳电池中的应用第12-15页
    1.4 本文主要研究工作第15-16页
    参考文献第16-22页
第二章 纳米结构的光学特性与电学特性模拟方法第22-32页
    2.1 引言第22页
    2.2 时域有限差分法第22-26页
        2.2.1 差商近似第23-25页
        2.2.2 数值稳定性第25-26页
        2.2.3 吸收边界条件第26页
    2.3 光学仿真步骤第26-28页
    2.4 电学仿真基本原理第28-30页
        2.4.1 泊松方程和漂移扩散方程第28-30页
        2.4.2 电学仿真步骤第30页
    2.5 小结第30-31页
    参考文献第31-32页
第三章 “U池”状纳米墙阵列光电性能研究第32-55页
    3.1 引言第32页
    3.2 结构与光电学参数第32-33页
    3.3 GaAs“U”形墙的光学性能第33-40页
        3.3.1 衬底厚度对“U”形墙光学性能的影响第34-35页
        3.3.2 宽度对“U”形墙的光学性能的影响第35-36页
        3.3.3 高度对“U”形墙光学性能的影响第36-39页
        3.3.4 GaAs“U”形墙的优化结构的光学性能第39-40页
    3.4 GaAs“U”形墙的电学性能第40-43页
    3.5 poly-Si“U”形墙的光学性能第43-49页
        3.5.1 衬底厚度对“U”形墙光学性能的影响第43-44页
        3.5.2 宽度对“U”形墙光学性能的影响第44-45页
        3.5.3 高度对“U”形墙光学性能的影响第45-47页
        3.5.4 poly-Si“U”形墙的优化结构的光学性能第47-49页
    3.6 poly-Si“U”形墙优化结构的电学性能第49-51页
    3.7 小结第51-53页
    参考文献第53-55页
第四章 倒“U池”状纳米墙阵列的光电性能研究第55-76页
    4.1 引言第55页
    4.2 结构与光电学参数第55-56页
    4.3 GaAs倒“U”形墙的光学性能第56-62页
        4.3.1 衬底厚度对GaAs倒“U”形墙光学性能的影响第57-58页
        4.3.2 宽度对Ga As倒“U”形墙光学性能的影响第58-59页
        4.3.3 高度对GaAs倒“U”形墙对光学性能的影响第59-60页
        4.3.4 GaAs倒“U”形墙优化结构的光学性能第60-62页
    4.4 GaAs倒“U”形墙优化结构的电学性能第62-64页
    4.5 poly-Si倒“U”形墙的光学性能第64-71页
        4.5.1 衬底厚度对poly-Si倒“U”形墙的光学性能的影响第65-66页
        4.5.2 宽度对poly-Si倒“U”形墙的光学性能的影响第66-67页
        4.5.3 高度对poly-Si倒“U”形墙的光学性能的影响第67-69页
        4.5.4 poly-Si倒“U”形墙优化结构的光学性能第69-71页
    4.6 poly-Si倒“U”形墙优化结构的电学性能第71-73页
    4.7 小结第73-74页
    参考文献第74-76页
第五章 总结与展望第76-78页
    5.1 总结第76-77页
    5.2 展望第77-78页
在学期间的研究成果第78-79页
致谢第79页

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