线阵CCD直读光谱仪检测与处理系统设计
摘要 | 第5-6页 |
ABSTRACT | 第6-7页 |
第1章 绪论 | 第12-20页 |
1.1 课题研究的背景及意义 | 第12-13页 |
1.1.1 课题研究的背景 | 第12页 |
1.1.2 研究的目的及意义 | 第12-13页 |
1.2 直读光谱仪的发展及技术特点 | 第13-16页 |
1.2.1 直读光谱仪的发展 | 第13-15页 |
1.2.2 直读光谱仪的技术特点 | 第15-16页 |
1.3 直读光谱仪在抚铝的应用及主要研究内容 | 第16-19页 |
1.3.1 ARL3460光谱仪在抚铝的应用 | 第16页 |
1.3.2 本课题的主要研究内容 | 第16-19页 |
1.4 本章小结 | 第19-20页 |
第2章 CCD图像传感器的原理 | 第20-32页 |
2.1 光谱仪的基本原理 | 第20页 |
2.2 光谱测量系统原理 | 第20-21页 |
2.3 CCD的工作原理及种类 | 第21-26页 |
2.3.1 电荷转换注入到输出 | 第22-25页 |
2.3.2 CCD的种类 | 第25-26页 |
2.4 CCD的主要特性参数 | 第26-29页 |
2.4.1 响应度 | 第26-27页 |
2.4.2 响应及非均匀性 | 第27页 |
2.4.3 暗电压 | 第27-28页 |
2.4.4 饱和输出电压与饱和曝光量 | 第28页 |
2.4.5 动态范围 | 第28-29页 |
2.5 分辨率及噪声 | 第29-30页 |
2.5.1 分辨率 | 第29页 |
2.5.2 CCD噪声 | 第29-30页 |
2.6 线阵CCD直读光谱仪的基本构成 | 第30页 |
2.7 本章小结 | 第30-32页 |
第3章 CCD设备选型 | 第32-40页 |
3.1 CCD的选用及使用分析 | 第32-38页 |
3.1.1 CCD的选用 | 第32-33页 |
3.1.2 ILX554B使用分析 | 第33-38页 |
3.2 CCD驱动电路设计 | 第38页 |
3.3 光信号采集模块的实现 | 第38-39页 |
3.4 本章小结 | 第39-40页 |
第4章 CCD检测系统硬件设计 | 第40-52页 |
4.1 系统概述 | 第40页 |
4.2 检测系统核心 | 第40-44页 |
4.2.1 CCD驱动电路的实现 | 第40-41页 |
4.2.2 处理器选择及介绍 | 第41-43页 |
4.2.3 A/D | 第43-44页 |
4.3 系统时钟设计 | 第44页 |
4.4 信号调理电路设计 | 第44-46页 |
4.5 调试接口设计 | 第46-47页 |
4.6 通信电路设计 | 第47页 |
4.7 电源电路设计 | 第47-48页 |
4.8 电路板设计基础及抗干扰防范 | 第48-51页 |
4.8.1 元器件布局原则 | 第49页 |
4.8.2 PCB的布线原则 | 第49-51页 |
4.9 本章小结 | 第51-52页 |
第5章 系统软件设计 | 第52-56页 |
5.1 下位机系统软件设计 | 第52-54页 |
5.1.1 主程序设计 | 第52-53页 |
5.1.2 系统初始化子程序 | 第53页 |
5.1.3 通信程序的设计 | 第53-54页 |
5.1.4 数据采集程序的设计 | 第54页 |
5.2 上位机测试系统设计 | 第54-55页 |
5.3 本章小结 | 第55-56页 |
第6章 光谱测试结果与分析 | 第56-72页 |
6.1 光谱分析基本知识 | 第56-58页 |
6.1.1 照度匹配 | 第56-57页 |
6.1.2 波长定位 | 第57-58页 |
6.2 光谱定量分析基本原理 | 第58-62页 |
6.2.1 谱线强度与试样浓度的关系 | 第58页 |
6.2.2 内标法和分析线 | 第58-59页 |
6.2.3 光电光谱定量分析方法 | 第59-61页 |
6.2.4 上位机例行标准化界面 | 第61-62页 |
6.3 测试结果与分析 | 第62-67页 |
6.3.1 建立工作曲线 | 第62-66页 |
6.3.2 准确度测试 | 第66页 |
6.3.3 稳定性测试 | 第66-67页 |
6.4 系统噪声处理方法 | 第67-70页 |
6.4.1 系统噪声分析 | 第67页 |
6.4.2 去噪方法 | 第67-70页 |
6.5 本章小结 | 第70-72页 |
第7章 总结与展望 | 第72-74页 |
7.1 总结 | 第72-73页 |
7.2 展望 | 第73-74页 |
致谢 | 第74-76页 |
参考文献 | 第76-77页 |