基于STM32的多工位PTCR综合参数测量系统
| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 1 绪论 | 第9-15页 |
| 1.1 PTCR热敏电阻的特性及应用前景 | 第9-10页 |
| 1.2 PTCR热敏电阻的主要电性能 | 第10-12页 |
| 1.3 嵌入式系统在仪器仪表中的使用 | 第12-13页 |
| 1.4 PTCR热敏电阻特性测试系统的发展现状 | 第13页 |
| 1.5 论文的主要研究内容 | 第13-15页 |
| 2 测试系统总体方案设计 | 第15-21页 |
| 2.1 引言 | 第15页 |
| 2.2 PTCR热敏电阻主要测试参数 | 第15-16页 |
| 2.3 PTCR耐电压、老化及参数测量原理 | 第16-17页 |
| 2.4 系统总体方案 | 第17-20页 |
| 2.5 本章小结 | 第20-21页 |
| 3 系统硬件设计 | 第21-35页 |
| 3.1 引言 | 第21页 |
| 3.2 STM32主控模块电路设计 | 第21-30页 |
| 3.3 STC从控模块电路设计 | 第30-33页 |
| 3.4 加压控制模块 | 第33-34页 |
| 3.5 本章小结 | 第34-35页 |
| 4 系统软件设计 | 第35-45页 |
| 4.1 引言 | 第35页 |
| 4.2 平台的软件流程框图 | 第35-36页 |
| 4.3 系统通信协议 | 第36-39页 |
| 4.4 主控STM32软件设计 | 第39-41页 |
| 4.5 从控单片机的软件设计 | 第41-42页 |
| 4.6 上位机软件设计 | 第42-44页 |
| 4.7 本章小结 | 第44-45页 |
| 5 系统运行及结果分析 | 第45-53页 |
| 5.1 参数测量结果 | 第45-48页 |
| 5.2 耐压测试运行结果 | 第48-49页 |
| 5.3 老化测试运行结果分析 | 第49-51页 |
| 5.4 系统可靠性分析 | 第51-52页 |
| 5.5 本章小结 | 第52-53页 |
| 6 总结和展望 | 第53-55页 |
| 6.1 全文总结 | 第53页 |
| 6.2 研究展望 | 第53-55页 |
| 致谢 | 第55-56页 |
| 参考文献 | 第56-59页 |
