基于MCIS抽样的SRAM失效概率的估计

中文摘要	第4-5页
Abstract	第5页
第一章 引言	第7-10页
§1.1 小概率事件模拟的相关介绍	第7-8页
§1.2 GIBBS 抽样方法简介	第8页
§1.3 SRAM 失效简介	第8-9页
§1.4 本文的工作和本文结构	第9-10页
第二章 小概率事件的模拟	第10-17页
§2.1 一个重要抽样例子	第10-13页
§2.2 传统的 MONTE CARLO 模拟	第13-14页
§2.3 重要抽样理论介绍	第14-15页
§2.4 马尔科夫链蒙特卡洛抽样（MCMC）	第15-17页
第三章 马尔科夫链重要抽样	第17-20页
§3.1 构造重要抽样分布	第17-19页
§3.2 MCIS 算法	第19-20页
第四章 SRAM 失效概率研究	第20-29页
§4.1 模拟精度及模拟效率	第20-21页
§4.2 模型实现	第21-29页
§4.2.1 服从于多元正态分布的讨论	第21-26页
§4.2.2 服从于多元 t 分布的讨论	第26-29页
第五章 结论及有待研究的问题	第29-30页
§5.1 结论	第29页
§5.2 进一步有待研究的问题	第29-30页
参考文献	第30-32页
致谢	第32-33页