摘要 | 第5-6页 |
abstract | 第6-7页 |
第一章 绪论 | 第11-17页 |
1.1 研究工作的背景与意义 | 第11-12页 |
1.2 非制冷红外焦平面探测器验证测试技术的研究现状和发展态势 | 第12-15页 |
1.2.1 非制冷红外焦平面探测器验证测试技术的研究现状 | 第13-14页 |
1.2.2 非制冷红外焦平面探测器验证测试技术的发展趋势 | 第14-15页 |
1.3 本文的主要贡献与创新 | 第15-16页 |
1.4 本论文的结构安排 | 第16-17页 |
第二章 片上校正与红外图像缺陷检测技术 | 第17-24页 |
2.1 片上校正技术 | 第17-20页 |
2.1.1 微测辐射热计工作原理 | 第17-18页 |
2.1.2 片上校正技术原理 | 第18-20页 |
2.2 红外图像缺陷检测技术 | 第20-23页 |
2.2.1 红外图像缺陷检测的需求分析 | 第21页 |
2.2.2 图像分割技术 | 第21-23页 |
2.2.2.1 阈值分割 | 第21-22页 |
2.2.2.2 区域生长 | 第22-23页 |
2.3 本章小结 | 第23-24页 |
第三章 测试系统的设计 | 第24-42页 |
3.1 测试系统平台整体功能框架规划 | 第24-25页 |
3.2 测试系统的硬件设计 | 第25-34页 |
3.2.1 硬件电路组成框架 | 第25-26页 |
3.2.2 红外探测器及其驱动电路 | 第26-29页 |
3.2.3 FPGA设计 | 第29-31页 |
3.2.4 USB通信电路 | 第31-32页 |
3.2.5 图像数据采集传输电路 | 第32-34页 |
3.3 NiosⅡ嵌入式系统片上外设设计 | 第34-37页 |
3.3.1 NiosⅡ嵌入式系统概念 | 第34-35页 |
3.3.2 NIOSⅡ嵌入式系统组成 | 第35-37页 |
3.4 NiosⅡ嵌入式系统软件开发 | 第37-40页 |
3.4.1 嵌入式系统软件的设计实现 | 第38-39页 |
3.4.2 嵌入式系统软件功能组成 | 第39-40页 |
3.5 片上校正的软硬件基础 | 第40-41页 |
3.6 本章小结 | 第41-42页 |
第四章 片上校正的设计与实现 | 第42-65页 |
4.1 片上校正的时序控制 | 第42-43页 |
4.2 片上校正的算法设计与实现流程 | 第43-49页 |
4.2.1 遍历法 | 第46-47页 |
4.2.2 逐次逼近法 | 第47-48页 |
4.2.3 二分法 | 第48-49页 |
4.3 片上校正效果的微调 | 第49-51页 |
4.4 片上校正的实现及分析 | 第51-64页 |
4.4.1 测试系统的性能分析 | 第52-57页 |
4.4.1.1 电源稳定性测试 | 第52-54页 |
4.4.1.2 与PI测试系统进行对比测试 | 第54-56页 |
4.4.1.3 测试系统重复性测试 | 第56页 |
4.4.1.4 测试系统的整体效果 | 第56-57页 |
4.4.2 二分法片上校正的效果及分析 | 第57-62页 |
4.4.2.1 二分法片上校正的过程 | 第58-61页 |
4.4.2.2 片上校正对非均匀性的影响 | 第61-62页 |
4.2.2.3 片上校正对动态范围的影响 | 第62页 |
4.4.3 片上校正的微调效果及分析 | 第62-64页 |
4.5 本章小结 | 第64-65页 |
第五章 红外图像缺陷检测算法的设计与实现 | 第65-81页 |
5.1 红外图像缺陷原因 | 第65页 |
5.2 红外图像的缺陷类型 | 第65-67页 |
5.3 红外图像缺陷检测算法的设计 | 第67-78页 |
5.3.1 图像缺陷像素检测算法 | 第67-74页 |
5.3.1.1 根据灰度直方图寻找阈值 | 第68-69页 |
5.3.1.2 阈值处理算法中的前期处理 | 第69-71页 |
5.3.1.3 误检修正 | 第71-72页 |
5.3.1.4 不完全检测修正 | 第72-74页 |
5.3.2 图像缺陷计量算法 | 第74-76页 |
5.3.3 图像缺陷分类算法 | 第76-78页 |
5.4 红外图像缺陷检测效果与分析 | 第78-80页 |
5.5 本章小结 | 第80-81页 |
第六章 总结与展望 | 第81-83页 |
6.1 总结 | 第81-82页 |
6.2 后续工作展望 | 第82-83页 |
致谢 | 第83-84页 |
参考文献 | 第84-87页 |
攻读硕士学位期间取得的成果 | 第87页 |