首页--工业技术论文--无线电电子学、电信技术论文--基本电子电路论文--放大技术、放大器论文--放大器论文--放大器:按作用分论文

非线性化功放的数字预失真系统设计

摘要第5-6页
ABSTRACT第6-7页
缩略词表第15-16页
主要数学符号表第16-17页
第一章 绪论第17-21页
    1.1 研究背景第17页
    1.2 研究现状第17-19页
    1.3 本文主要工作与内容安排第19-21页
第二章 预失真原理与算法实现第21-45页
    2.1 引言第21页
    2.2 功放非线性特性与评价指标第21-25页
        2.2.1 功率放大器的非线性特性第21-23页
        2.2.2 功率放大器的记忆性第23-24页
        2.2.3 系统评价指标第24-25页
    2.3 数字预失真器原理与整体流程第25-27页
    2.4 功放模型与数字预失真器模型第27-31页
        2.4.1 Saleh模型第27页
        2.4.2 Rapp模型第27-28页
        2.4.3 Volterra模型第28-29页
        2.4.4 记忆多项式模型第29页
        2.4.5 Hammerstein模型第29-30页
        2.4.6 Wiener模型第30页
        2.4.7 Wiener-Hammerstein模型第30-31页
    2.5 自适应学习结构第31-32页
    2.6 模型辨识算法第32-34页
        2.6.1 最小均方法第33页
        2.6.2 最小二乘法第33页
        2.6.3 递归最小二乘法第33-34页
    2.7 记忆多项式模型参数辨识第34-36页
    2.8 环路延迟校正第36-37页
    2.9 算法仿真分析第37-43页
        2.9.1 不同阶数情况下对比第37-38页
        2.9.2 不同记忆深度对比第38-40页
        2.9.3 不同自适应算法对比第40-41页
        2.9.4 频谱与功放特性曲线对比第41-42页
        2.9.5 信号同步仿真第42-43页
    2.10 本章小结第43-45页
第三章 系统架构与硬件设计第45-58页
    3.1 引言第45页
    3.2 系统架构与工作流程第45-48页
        3.2.1 系统架构第45-46页
        3.2.2 工作流程第46-48页
    3.3 硬件结构与设计第48-55页
        3.3.1 数字基带板设计第49-53页
        3.3.2 模拟基带板设计第53-55页
        3.3.3 硬件调试第55页
    3.4 开发环境第55-56页
        3.4.1 算法仿真与上位机界面第55-56页
        3.4.2 FPGA的EDK开发平台第56页
        3.4.3 ARM微控制器开发平台第56页
    3.5 本章小结第56-58页
第四章 数字预失真器的详细设计第58-84页
    4.1 引言第58页
    4.2 模块功能与工作流程第58-59页
    4.3 基于EDK的FPGA设计与开发第59-63页
    4.4 主要模块设计第63-82页
        4.4.1 PowerPC与DDR2 SDRAM设计第63-65页
        4.4.2 用户IP核与整体EDK设计第65-70页
        4.4.3 数字预失真器模型与数字功放模型设计第70-77页
        4.4.4 PowerPC主要模块第77-81页
        4.4.6 上位机界面第81-82页
    4.5 本章小结第82-84页
第五章 测试与性能分析第84-92页
    5.1 引言第84页
    5.2 测试环境第84-85页
    5.3 模块化测试第85-87页
    5.4 总体测试第87-91页
    5.5 本章小结第91-92页
第六章 结束语第92-94页
    6.1 总结第92页
    6.2 展望第92-94页
致谢第94-95页
参考文献第95-99页
个人简历及攻读硕士期间成果第99-100页

论文共100页,点击 下载论文
上一篇:低压电力载波通信与电网及电机类家电电磁兼容性研究
下一篇:Doherty功放的数字预失真技术研究