| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-5页 |
| 引言 | 第5-6页 |
| 第一章 微处理器简介 | 第6-15页 |
| 第一节 微处理器的历史 | 第6-8页 |
| 第二节 双核微处理器 | 第8-9页 |
| 第三节 微处理器的内部架构和特点 | 第9-15页 |
| 第二章 微处理器测试流程简介 | 第15-23页 |
| 第一节 基本测试项目 | 第16-19页 |
| 第二节 speed测试 | 第19-21页 |
| 第三节 其它测试项目 | 第21-23页 |
| 第三章 VID | 第23-33页 |
| 第一节 VID和AVID | 第23-26页 |
| 第二节 Turbo模式 | 第26-30页 |
| 第三节 AVID的测试flow | 第30-33页 |
| 第四章 Fuse | 第33-43页 |
| 第一节 什么是Fuse | 第33-34页 |
| 第二节 Fuse的参数对象及Fuse的实现 | 第34-36页 |
| 第三节 Fuse的原理及原理分析 | 第36-39页 |
| 第四节 Margin模式 | 第39-41页 |
| 第五节 Fuse数值的定义和测试 | 第41-43页 |
| 第五章 案例分析 | 第43-58页 |
| 第一节 由VID引起的芯片功率问题 | 第43-50页 |
| 第二节 由Downbin引起的Fuse问题 | 第50-58页 |
| 第六章 总结与讨论 | 第58-70页 |
| 第一节 用VBA编写的二进制字符串取值以及比较程序 | 第59-69页 |
| 结论 | 第69-70页 |
| 附件二进制字符串取值以及比较程序 | 第70-71页 |
| 参考文献 | 第71-72页 |
| 致谢 | 第72-73页 |