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基于InGaAs(P)/InP APD的单光子探测器的研制和性能研究

摘要第10-14页
ABSTRACT第14-19页
第一章 绪论第20-28页
    1.1 研究背景和意义第20-25页
        1.1.1 课题研究背景第20页
        1.1.2 课题研究意义第20-21页
        1.1.3 国内外研究进展和分析第21-25页
    1.2 论文的主要内容第25-26页
    1.3 小结第26-28页
第二章 基于InGaAs(P)/InP APD的单光子探测技术原理第28-40页
    2.1 InGaAs(P)/InPAPD单光子探测原理第28-30页
    2.2 基于APD的单光子探测器的基本性能指标第30-34页
    2.3 基于APD的单光子探测器的工作模式第34-38页
        2.3.1 自由运转模式第34-36页
        2.3.2 门控模式第36-38页
    2.4 小结第38-40页
第三章 基于InGaAs(P)/InP APD的自由运转单光子探测器第40-58页
    3.1 用于自由运转探测器的主动猝灭主动恢复技术第40-49页
        3.1.1 雪崩提取电路第40-44页
        3.1.2 偏压控制电路第44-49页
        3.1.3 不同方案的电路性能第49页
    3.2 改进的低延迟主动猝灭主动恢复电路第49-53页
    3.3 自由运转单光子探测器探测性能第53-57页
    3.4 小结第57-58页
第四章 基于InGaAs(P)/InP APD的门控单光子探测器第58-74页
    4.1 基于低延迟主动猝灭技术的门控单光子探测器第58-61页
    4.2 结电容平衡与低通滤波结合的高速门控单光子探测器第61-70页
        4.2.1 脉宽可调的脉冲成型电路第61-63页
        4.2.2 门控信号放大电路第63-65页
        4.2.3 门控微分噪声抑制和雪崩提取电路第65-70页
    4.3 高速门控单光子探测器探测性能第70-72页
    4.4 小结第72-74页
第五章 单光子探测器性能指标的测量和表征第74-124页
    5.1 单光子探测器性能测试系统第74-75页
    5.2 基于FPGA的性能指标测试模块第75-79页
    5.3 雪崩脉冲特性第79-89页
        5.3.1 自由运转单光子探测器的雪崩脉冲测量方法及其特性第79-85页
        5.3.2 高速门控单光子探测器的雪崩脉冲特性第85-89页
    5.4 有效门宽第89-90页
    5.5 时间抖动第90-95页
        5.5.1 自由运转单光子探测器的时间抖动特性第92-93页
        5.5.2 高速门控单光子探测器的时间抖动特性第93-95页
    5.6 暗计数第95-99页
        5.6.1 测量和表征方法第95-97页
        5.6.2 影响因素第97-99页
    5.7 探测效率和后脉冲概率第99-119页
        5.7.1 测量和表征方法第99-110页
        5.7.2 探测效率的影响因素第110-111页
        5.7.3 后脉冲概率的影响因素第111-119页
    5.8 多光子入射时的探测性能第119-122页
    5.9 小结第122-124页
第六章 自由运转和高速门控单光子探测器性能比较第124-136页
    6.1 基于时间相关单光子计数的激光测距系统第124-125页
    6.2 性能比较第125-131页
        6.2.1 实际探测效率第125-128页
        6.2.2 暗计数和探测效率对系统性能的影响第128-130页
        6.2.3 后脉冲对系统性能的影响第130-131页
    6.3 自由运转探测器的掩蔽效应第131-133页
    6.4 小结第133-136页
第七章 总结与展望第136-140页
    7.1 主要研究进展与成果第136-137页
    7.2 主要创新点第137-138页
    7.3 论文存在的不足和今后研究的方向第138-140页
参考文献第140-154页
致谢第154-156页
攻读学位期间的科研成果、奖励及参与的科研项目第156-158页
学位论文评阅及答辩情况表第158-159页
附录第159-169页

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