随钻方位密度成像测井基础研究
| 摘要 | 第4-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 创新点摘要 | 第8-12页 |
| 第一章 绪论 | 第12-20页 |
| 1.1 选题依据及研究意义 | 第12页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第12-17页 |
| 1.2.1 密度测井仪研究进展 | 第12-15页 |
| 1.2.2 方位密度应用研究进展 | 第15-17页 |
| 1.3 论文研究内容和研究目标 | 第17-19页 |
| 1.4 论文的结构安排 | 第19-20页 |
| 第二章 随钻方位密度测井基本原理 | 第20-25页 |
| 2.1 核物理基础 | 第20-21页 |
| 2.2 密度测井原理 | 第21-23页 |
| 2.3 随钻方位密度测井原理 | 第23-24页 |
| 2.4 本章小结 | 第24-25页 |
| 第三章 随钻方位密度测井蒙特卡罗模拟研究 | 第25-37页 |
| 3.1 蒙特卡罗方法简介 | 第25-26页 |
| 3.2 仪器计算模型 | 第26-27页 |
| 3.2.1 模型描述 | 第26页 |
| 3.2.2 模型构建 | 第26-27页 |
| 3.3 能窗划分方法 | 第27-32页 |
| 3.3.1 划分依据 | 第27-28页 |
| 3.3.2 淡水泥浆条件下探测器能窗划分 | 第28-30页 |
| 3.3.3 重晶石泥浆条件下探测器能窗划分 | 第30-32页 |
| 3.3.4 仪器能窗的确定 | 第32页 |
| 3.4 仪器探测特性研究 | 第32-35页 |
| 3.4.1 不同井斜角下几何因子 | 第32-35页 |
| 3.4.2 探测特性分析 | 第35页 |
| 3.5 本章小结 | 第35-37页 |
| 第四章 谱数据处理及刻度方法 | 第37-84页 |
| 4.1 谱数据处理软件 | 第37-39页 |
| 4.2 谱数据处理方法 | 第39-75页 |
| 4.2.1 谱数据平滑、滤波 | 第39-55页 |
| 4.2.2 谱数据寻峰 | 第55-67页 |
| 4.2.3 谱数据能量刻度 | 第67-69页 |
| 4.2.4 本底扣除及死时间校正 | 第69-75页 |
| 4.3 刻度方法研究 | 第75-77页 |
| 4.3.1 一级刻度 | 第75-76页 |
| 4.3.2 二级刻度 | 第76页 |
| 4.3.3 密度和岩性指数 Pe 计算 | 第76-77页 |
| 4.4 谱数据处理方法验证 | 第77-82页 |
| 4.5 本章小结 | 第82-84页 |
| 第五章 随钻方位密度影响因素分析及校正 | 第84-104页 |
| 5.1 方位密度敏感性分析 | 第84-89页 |
| 5.1.1 方位密度敏感性模拟 | 第84-87页 |
| 5.1.2 密度值差下方位密度敏感性分析 | 第87-89页 |
| 5.2 井眼因素影响及校正 | 第89-95页 |
| 5.2.1 井径和间隙影响因素的模拟 | 第89-94页 |
| 5.2.2 井径和间隙校正 | 第94-95页 |
| 5.3 不同井斜角下层厚的影响及校正 | 第95-103页 |
| 5.3.1 不同井斜角下层厚影响因素的模拟 | 第95-99页 |
| 5.3.2 不同井斜角下层厚影响的校正 | 第99-103页 |
| 5.4 本章小结 | 第103-104页 |
| 第六章 随钻方位密度成像测井应用研究 | 第104-130页 |
| 6.1 方位密度成像方法 | 第104-119页 |
| 6.1.1 数据预处理 | 第104页 |
| 6.1.2 图像色度标定 | 第104-105页 |
| 6.1.3 图像生成与显示 | 第105-106页 |
| 6.1.4 图像插值技术 | 第106-108页 |
| 6.1.5 图像处理方法 | 第108-115页 |
| 6.1.6 密度图像实例 | 第115-119页 |
| 6.2 方位密度图像的应用 | 第119-128页 |
| 6.2.1 识别地层界面 | 第119-124页 |
| 6.2.2 求取地层倾角 | 第124-128页 |
| 6.3 本章小结 | 第128-130页 |
| 第七章 结论及展望 | 第130-133页 |
| 7.1 主要结论 | 第130-132页 |
| 7.2 展望 | 第132-133页 |
| 参考文献 | 第133-140页 |
| 致谢 | 第140-141页 |
| 个人简历 | 第141-142页 |
| 攻读博士学位期间取得的研究成果 | 第142页 |
