线束端子压接工艺的研究与可靠性分析
摘要 | 第4-5页 |
ABSTRACT | 第5-6页 |
第一章 绪论 | 第10-14页 |
1.1 课题背景 | 第10-11页 |
1.2 线束端子压接的研究现状 | 第11-12页 |
1.3 课题的研究内容和意义 | 第12-14页 |
1.3.1 课题的主要研究内容 | 第12-13页 |
1.3.2 课题的意义 | 第13-14页 |
第二章 端子压接工艺的研究 | 第14-23页 |
2.1 压接端子 | 第14-17页 |
2.1.1 压接端子的形状和分类 | 第14-15页 |
2.1.2 压接端子的材料 | 第15-16页 |
2.1.3 压接端子的用途 | 第16-17页 |
2.2 导线 | 第17-18页 |
2.3 压接工具 | 第18页 |
2.4 压接的基本原理 | 第18-20页 |
2.4.1 端子压接的弹塑性变形理论 | 第18-19页 |
2.4.2 端子压接的电接触理论 | 第19-20页 |
2.5 压接工艺 | 第20-22页 |
2.5.1 压接工艺流程 | 第20-21页 |
2.5.2 压接端子质量要求 | 第21-22页 |
2.5.3 压接端子的质量问题 | 第22页 |
2.6 本章小结 | 第22-23页 |
第三章 影响压接端子性能的因素 | 第23-32页 |
3.1 端子对压接性能的影响 | 第23-26页 |
3.1.1 端子的材料 | 第23-24页 |
3.1.2 端子的镀层 | 第24-25页 |
3.1.3 端子的设计参数 | 第25-26页 |
3.2 导线对压接性能的影响 | 第26-28页 |
3.3 刀模对压接性能的影响 | 第28-29页 |
3.4 压接高度对端子性能的影响 | 第29-31页 |
3.4.1 压接高度对端子机械性能的理论分析 | 第29页 |
3.4.2 压接高度对端子电气性能影响的理论分析 | 第29-30页 |
3.4.3 压接高度的理论计算 | 第30-31页 |
3.5 本章小结 | 第31-32页 |
第四章 端子压接有限元仿真分析 | 第32-52页 |
4.1 有限元理论 | 第32-34页 |
4.1.1 有限元原理 | 第32-33页 |
4.1.2 显示动力学 | 第33-34页 |
4.2 端子压接仿真分析 | 第34-42页 |
4.2.1 压接端子的仿真模型 | 第34-36页 |
4.2.2 仿真分析 | 第36-38页 |
4.2.3 仿真结果及分析 | 第38-42页 |
4.3 压接性能影响因素的仿真分析 | 第42-50页 |
4.3.1 压接高度的影响 | 第42-46页 |
4.3.2 导线材料的影响 | 第46-48页 |
4.3.3 刀模的影响 | 第48-50页 |
4.4 本章小结 | 第50-52页 |
第五章 压接端子性能的实验研究 | 第52-65页 |
5.1 实验方案设计 | 第52页 |
5.1.1 实验目的 | 第52页 |
5.1.2 实验方案设计 | 第52页 |
5.2 样品制备 | 第52-56页 |
5.2.1 端子和导线 | 第52-53页 |
5.2.2 压接设备 | 第53-54页 |
5.2.3 制作样品 | 第54页 |
5.2.4 样品压接高度的测量 | 第54-56页 |
5.3 实验设备 | 第56-58页 |
5.4 实验结果分析 | 第58-64页 |
5.4.1 压接高度对机械性能的影响 | 第58-60页 |
5.4.2 压接高度对电气性能的影响 | 第60-62页 |
5.4.3 压接高度对寿命的影响 | 第62-64页 |
5.5 本章小结 | 第64-65页 |
第六章 总结与展望 | 第65-67页 |
6.1 总结 | 第65页 |
6.2 展望 | 第65-67页 |
参考文献 | 第67-69页 |
致谢 | 第69-70页 |
攻读学位期间发表的学术论文 | 第70页 |