摘要 | 第4-5页 |
ABSTRACT | 第5-6页 |
1 绪论 | 第9-17页 |
1.1 研究背景及意义 | 第9-10页 |
1.2 国内外研究现状 | 第10-14页 |
1.3 关合情况下弧触头物理过程及失效行为分析 | 第14-15页 |
1.4 本文主要工作 | 第15-17页 |
2 弧触头材料侵蚀实验 | 第17-46页 |
2.1 实验对象及实验装置 | 第17-18页 |
2.2 弧触头关合侵蚀实验 | 第18-28页 |
2.3 弧触头电弧烧蚀实验 | 第28-32页 |
2.4 弧触头材料优选实验 | 第32-35页 |
2.5 弧触头微观结构观测 | 第35-44页 |
2.6 本章小结 | 第44-46页 |
3 弧触头材料侵蚀实验结果分析 | 第46-59页 |
3.1 电弧能量对侵蚀量的影响分析 | 第46-50页 |
3.2 电弧能量对击穿电压的影响分析 | 第50页 |
3.3 关合速度对侵蚀量的影响分析 | 第50-53页 |
3.4 关合速度对击穿电压的影响分析 | 第53-54页 |
3.5 弧触头关合侵蚀微观物理过程 | 第54-55页 |
3.6 典型弧触头材料优劣比较 | 第55-57页 |
3.7 本章小结 | 第57-59页 |
4 弧触头关合侵蚀失效次数计算 | 第59-69页 |
4.1 弧触头关合侵蚀失效次数计算模型 | 第59-60页 |
4.2 基于开断重击穿失效模式的弧触头失效次数计算 | 第60-63页 |
4.3 基于操作时序反转失效模式的弧触头失效次数计算 | 第63-68页 |
4.4 本章小结 | 第68-69页 |
5 总结与展望 | 第69-72页 |
5.1 全文主要结论 | 第69-70页 |
5.2 展望 | 第70-72页 |
致谢 | 第72-73页 |
参考文献 | 第73-76页 |