| 摘要 | 第5-7页 |
| Abstract | 第7-8页 |
| 1 绪论 | 第12-25页 |
| 1.1 课题研究的背景及意义 | 第12-13页 |
| 1.2 偏振成像技术的研究现状以及面临问题 | 第13-22页 |
| 1.2.1 偏振信息参数的测量 | 第14-18页 |
| 1.2.2 偏振信息与物体表面光学特征关系 | 第18-20页 |
| 1.2.3 基于偏振信息的目标探测技术 | 第20-21页 |
| 1.2.4 偏振信息在运动目标检测中的应用 | 第21-22页 |
| 1.2.5 目标探测中偏振信息提取与应用面临的主要技术难点 | 第22页 |
| 1.3 本文主要研究工作与结构 | 第22-25页 |
| 2 偏振参数图像的快速测量技术 | 第25-53页 |
| 2.1 偏振态的定量描述方式 | 第25-30页 |
| 2.1.1 电矢量表示法 | 第25-26页 |
| 2.1.2 Jones矢量表示法以及Jones矩阵 | 第26-28页 |
| 2.1.3 Stokes矢量以及Mueller矩阵 | 第28-29页 |
| 2.1.4 偏振度、偏振角和椭偏角 | 第29页 |
| 2.1.5 Poincare球表示法 | 第29-30页 |
| 2.2 Stokes参数图像的实时测量装置 | 第30-47页 |
| 2.2.1 Stokes参数图像的测量原理 | 第30-32页 |
| 2.2.2 视场差异校正 | 第32-38页 |
| 2.2.3 灰度响应校准 | 第38-47页 |
| 2.3 Mueller矩阵图像的快速测量装置 | 第47-52页 |
| 2.3.1 主动偏振成像装置 | 第47-49页 |
| 2.3.2 Mueller矩阵图像的快速测量装置 | 第49-52页 |
| 2.4 本章小结 | 第52-53页 |
| 3 基于偏振特性参数的物体表面特征提取技术 | 第53-72页 |
| 3.1 基于Mueller矩阵提取物体表面光学常数 | 第53-62页 |
| 3.1.1 光学常数 | 第53-54页 |
| 3.1.2 Fresnel反射系数与光学常数的关系 | 第54-55页 |
| 3.1.3 基于Mueller矩阵求解光学常数 | 第55-58页 |
| 3.1.4 实验结果及小结 | 第58-62页 |
| 3.2 基于Mueller矩阵提取物体表面粗糙度信息 | 第62-71页 |
| 3.2.1 Cook-Torrance反射模型 | 第62-64页 |
| 3.2.2 每个像素点入射角计算 | 第64-66页 |
| 3.2.3 目标表面粗糙度的计算 | 第66页 |
| 3.2.4 实验结果 | 第66-71页 |
| 3.3 本章小结 | 第71-72页 |
| 4 基于偏振特征融合的目标增强技术 | 第72-94页 |
| 4.1 Mueller矩阵变换以及新的偏振指数R(M) | 第72-81页 |
| 4.1.1 Mueller矩阵的偏振特性表示 | 第72-73页 |
| 4.1.2 R(M)的获取 | 第73-75页 |
| 4.1.3 R(M)的验证 | 第75-77页 |
| 4.1.4 R(M)在目标探测中的应用 | 第77-81页 |
| 4.2 基于Mueller矩阵图像的目标增强方法 | 第81-93页 |
| 4.2.1 小波理论 | 第81-83页 |
| 4.2.2 像素级图像融合及评价指标 | 第83-86页 |
| 4.2.3 基于偏振特征融合的目标增强方法 | 第86-92页 |
| 4.2.4 融合结果与图像质量评价 | 第92-93页 |
| 4.3 本章小结 | 第93-94页 |
| 5 基于偏振信息快速提取技术的运动目标检测 | 第94-109页 |
| 5.1 目标与背景偏振信息快速提取 | 第94-99页 |
| 5.1.1 偏振特征参数的快速提取 | 第94-95页 |
| 5.1.2 基于偏振信息的目标与背景快速判别方法 | 第95-99页 |
| 5.2 运动目标检测方法 | 第99-104页 |
| 5.2.1 基于单应变换的运动目标检测方法 | 第99-100页 |
| 5.2.2 基于极线约束的运动目标检测方法 | 第100-102页 |
| 5.2.3 基于三视角约束的运动目标检测方法 | 第102-104页 |
| 5.3 实验与分析 | 第104-107页 |
| 5.3.1 实验结果 | 第104-106页 |
| 5.3.2 评价指标 | 第106-107页 |
| 5.4 本章小结 | 第107-109页 |
| 6 总结与展望 | 第109-111页 |
| 6.1 研究成果与创新点 | 第109-110页 |
| 6.2 研究展望 | 第110-111页 |
| 致谢 | 第111-112页 |
| 参考文献 | 第112-126页 |
| 附录 | 第126页 |
