数据采集器的FLASH存储技术与实现
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6页 |
| 第1章 绪论 | 第10-13页 |
| 1.1 课题研究背景及意义 | 第10页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第10-11页 |
| 1.3 本论文主要研究内容及技术指标 | 第11-13页 |
| 第2章 数据采集器设计 | 第13-43页 |
| 2.1 系统总体方案硬件设计 | 第13-14页 |
| 2.2 系统总体流程概括 | 第14-16页 |
| 2.3 系统硬件结构及功能实现 | 第16-38页 |
| 2.3.1 DSP芯片选择及接口控制 | 第16-25页 |
| 2.3.2 温度采集模块软件流程 | 第25-27页 |
| 2.3.3 电源板设计 | 第27-30页 |
| 2.3.4 Flash的存储流程 | 第30-36页 |
| 2.3.5 DSP程序的固化及代码搬移 | 第36-38页 |
| 2.4 NAND FLASH存储介绍 | 第38-42页 |
| 2.4.1 FLASH介绍 | 第38-40页 |
| 2.4.2 NAND FLASH的存储结构 | 第40页 |
| 2.4.3 NAND FLASH的管脚接口 | 第40-42页 |
| 2.5 本章小结 | 第42-43页 |
| 第3章 NAND FLASH功能实现及管理算法 | 第43-60页 |
| 3.1 NAND FLASH的命令集 | 第43页 |
| 3.2 NAND FLASH主要功能流程 | 第43-48页 |
| 3.2.1 读操作流程 | 第43-44页 |
| 3.2.2 写数据操作 | 第44-46页 |
| 3.2.3 擦除数据操作 | 第46-47页 |
| 3.2.4 COPY-BACK操作 | 第47-48页 |
| 3.3 NAND FLASH的坏块管理 | 第48-58页 |
| 3.3.1 坏块分类及特性 | 第48-49页 |
| 3.3.2 坏块的识别 | 第49-56页 |
| 3.3.3 坏块管理算法研究与实现 | 第56-58页 |
| 3.4 本章小结 | 第58-60页 |
| 第4章 数据采集器结果分析 | 第60-70页 |
| 4.1 数据采集器功能验证 | 第60-61页 |
| 4.2 数据采集器硬件平台验证 | 第61页 |
| 4.3 数据采集器验证过程 | 第61-68页 |
| 4.3.1 读操作验证 | 第61-63页 |
| 4.3.2 写操作验证 | 第63-64页 |
| 4.3.3 擦除操作验证 | 第64-65页 |
| 4.3.4 检测坏块操作验证 | 第65-67页 |
| 4.3.5 写目录操作验证 | 第67页 |
| 4.3.6 上位机显示 | 第67-68页 |
| 4.4 本章小结 | 第68-70页 |
| 第5章 总结 | 第70-72页 |
| 参考文献 | 第72-76页 |
| 攻读硕士学位器件发表的论文和取得的科研成果 | 第76-78页 |
| 致谢 | 第78页 |
