| 摘要 | 第8-9页 |
| ABSTRACT | 第9-10页 |
| 第一章 绪论 | 第11-18页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第11-12页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第12-17页 |
| 1.2.1 RTK数据处理技术 | 第12-15页 |
| 1.2.2 高精度接收机性能评估指标 | 第15-17页 |
| 1.3 本文研究内容 | 第17-18页 |
| 第二章 RTK数据处理技术 | 第18-39页 |
| 2.1 RTK观测模型与测量误差源分析 | 第18-28页 |
| 2.1.1 主要观测量与观测模型 | 第18-23页 |
| 2.1.2 影响RTK系统性能的测量误差分析 | 第23-28页 |
| 2.2 RTK数据处理方法 | 第28-33页 |
| 2.2.1 RTK数据处理流程 | 第28-29页 |
| 2.2.2 RTK数据处理数学模型 | 第29-31页 |
| 2.2.3 RTK数据处理中模糊度解算法 | 第31-33页 |
| 2.3 RTK软硬件平台实测数据处理分析 | 第33-37页 |
| 2.3.1 GPS L1频点实测数据处理 | 第35-36页 |
| 2.3.2 BDS B3频点实测数据处理 | 第36-37页 |
| 2.3.3 数据处理结果分析 | 第37页 |
| 2.4 本章小结 | 第37-39页 |
| 第三章 基于多普勒辅助电离层残差的周跳探测与修复技术 | 第39-49页 |
| 3.1 电离层残差法原理 | 第39-40页 |
| 3.2 多普勒测量值修复周跳原理 | 第40页 |
| 3.3 基于多普勒辅助的电离层残差法 | 第40-42页 |
| 3.4 算例分析 | 第42-48页 |
| 3.4.1 常规电离层残差法性能研究 | 第43-45页 |
| 3.4.2 改进电离层残差法性能研究 | 第45-47页 |
| 3.4.3 实验结论 | 第47-48页 |
| 3.5 本章小结 | 第48-49页 |
| 第四章 高精度接收机测量数据质量对RTK系统性能的影响分析 | 第49-61页 |
| 4.1 概述 | 第49页 |
| 4.2 影响RTK系统性能的因素分析 | 第49-51页 |
| 4.2.1 RTK系统性能指标 | 第50页 |
| 4.2.2 RTK系统性能的影响因素 | 第50-51页 |
| 4.3 高精度接收机测量数据质量影响RTK系统性能的分析方法 | 第51-53页 |
| 4.4 高精度接收机测量数据质量影响RTK系统性能的实验分析 | 第53-60页 |
| 4.4.1 测量精度的影响 | 第54-57页 |
| 4.4.2 载波相位周跳特性的影响 | 第57-60页 |
| 4.5 本章小结 | 第60-61页 |
| 第五章 结束语 | 第61-63页 |
| 5.1 本文工作总结 | 第61页 |
| 5.2 后续工作展望 | 第61-63页 |
| 致谢 | 第63-64页 |
| 参考文献 | 第64-69页 |
| 作者在学期间取得的学术成果 | 第69页 |
