激光干涉检测等离子体密度方法研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 符号对照表 | 第11-12页 |
| 缩略语对照表 | 第12-15页 |
| 第一章 绪论 | 第15-21页 |
| 1.1 等离子体诊断方法 | 第15-16页 |
| 1.2 干涉条纹处理 | 第16-19页 |
| 1.2.1 干涉条纹滤波处理 | 第17-18页 |
| 1.2.2 条纹中心线的提取 | 第18-19页 |
| 1.3 本文主要研究内容与工作 | 第19-21页 |
| 第二章 激光干涉诊断原理 | 第21-31页 |
| 2.1 光束干涉原理 | 第21-23页 |
| 2.2 等离子体的基础知识 | 第23-24页 |
| 2.3 马赫—曾德激光干涉系统 | 第24-30页 |
| 2.3.1 马赫—曾德干涉仪的测量原理 | 第25-26页 |
| 2.3.2 等离子体电子密度测量原理 | 第26-29页 |
| 2.3.3 激光器的选择 | 第29-30页 |
| 2.4 本章小结 | 第30-31页 |
| 第三章 干涉条纹图像处理 | 第31-51页 |
| 3.1 传统滤波方法 | 第31-36页 |
| 3.1.1 空域处理 | 第31-34页 |
| 3.1.2 频域处理 | 第34-36页 |
| 3.2 偏微分方程去噪方法 | 第36-41页 |
| 3.2.1 偏微分方程去噪模型 | 第36-37页 |
| 3.2.2 各向异性线性扩散模型 | 第37-38页 |
| 3.2.3 P-M扩散模型 | 第38-40页 |
| 3.2.4 偏微分方程的离散化 | 第40-41页 |
| 3.3 干涉条纹的中心线提 | 第41-50页 |
| 3.3.1 Yantagai极值检测法 | 第41-43页 |
| 3.3.2 干涉图像二值化 | 第43-46页 |
| 3.3.3 二值图的细化 | 第46-50页 |
| 3.4 本章小结 | 第50-51页 |
| 第四章 实验整体检测系统 | 第51-65页 |
| 4.1 检测系统 | 第51-56页 |
| 4.1.1 光路系统 | 第51-53页 |
| 4.1.2 爆炸以及系统触发 | 第53页 |
| 4.1.3 相机主要参数 | 第53-56页 |
| 4.2 背景光的检测 | 第56-59页 |
| 4.3 干涉条纹仿真 | 第59-63页 |
| 4.4 软件界面及主要功能 | 第63-64页 |
| 4.5 本章小结 | 第64-65页 |
| 第五章 结论 | 第65-67页 |
| 参考文献 | 第67-69页 |
| 致谢 | 第69-71页 |
| 作者简介 | 第71页 |
