| 中文摘要 | 第4-5页 |
| 英文摘要 | 第5页 |
| 引言 | 第7-11页 |
| 1 手征微扰理论简介 | 第11-17页 |
| 1.1 SU(3)手征有效拉氏量的构造 | 第11-13页 |
| 1.2 Wess-Zumino-Witten | 第13-14页 |
| 1.3 U(3)手征有效理论 | 第14-17页 |
| 2 η-η'混合以及π、K质量和衰变常数的理论计算 | 第17-29页 |
| 2.1 相关的手征拉氏量 | 第17-18页 |
| 2.2 η-η'混合在次次领头阶的计算 | 第18-23页 |
| 2.3 π、K的质量和衰变常数在次次领头阶的计算 | 第23-29页 |
| 3 轻赝标介子的现象学分析 | 第29-43页 |
| 3.1 领头阶分析 | 第29-31页 |
| 3.2 次领头阶分析 | 第31-32页 |
| 3.3 只考虑轻赝标介子质量的次领头阶拟合 | 第32-34页 |
| 3.4 次次领头阶分析 | 第34-43页 |
| 结论与展望 | 第43-45页 |
| 参考文献 | 第45-51页 |
| 附录 | 第51-57页 |
| 正在投稿的学术论文 | 第57-59页 |
| 后记 | 第59页 |