| 摘要 | 第4-5页 |
| abstract | 第5-6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-16页 |
| 1.1 研究背景 | 第9-10页 |
| 1.2 模分复用技术 | 第10-13页 |
| 1.2.1 光路型 | 第11-12页 |
| 1.2.2 空间型 | 第12-13页 |
| 1.3 光子晶体概述 | 第13-15页 |
| 1.3.1 光子晶体的概念 | 第13-14页 |
| 1.3.2 光子晶体特性 | 第14页 |
| 1.3.3 光子晶体应用 | 第14-15页 |
| 1.4 论文的研究重点与安排 | 第15-16页 |
| 第二章 耦合模理论及光子晶体的数值计算方法 | 第16-31页 |
| 2.1 耦合模理论 | 第16-21页 |
| 2.1.1 模式耦合的概念 | 第16-17页 |
| 2.1.2 耦合波方程 | 第17-19页 |
| 2.1.3 耦合功率方程 | 第19-20页 |
| 2.1.4 超模理论 | 第20-21页 |
| 2.2 平面波展开法 | 第21-25页 |
| 2.2.1 平面波展开法的基本原理 | 第21-23页 |
| 2.2.2 二维光子晶体带隙的计算 | 第23-24页 |
| 2.2.3 超晶胞的基本理论 | 第24-25页 |
| 2.3 时域有限差分法 | 第25-30页 |
| 2.3.1 时域有限差分法的基本原理 | 第25-26页 |
| 2.3.2 二维直角坐标系中的FDTD | 第26-29页 |
| 2.3.3 PML吸收边界条件 | 第29页 |
| 2.3.4 数值色散及稳定条件 | 第29-30页 |
| 2.4 本章小结 | 第30-31页 |
| 第三章 光子晶体波导模式耦合特性分析 | 第31-51页 |
| 3.1 光子晶体波导传播常数特性 | 第31-41页 |
| 3.1.1 介质柱半径对传播常数的影响 | 第32-37页 |
| 3.1.2 波导宽度对传播常数的影响 | 第37-41页 |
| 3.2 光子晶体三模式模分复用/解复用器主波导结构 | 第41-48页 |
| 3.2.1 介质柱型主波导结构 | 第41-45页 |
| 3.2.2 宽度型主波导结构 | 第45-48页 |
| 3.3 光子晶体模分复用/解复用器的耦合结构 | 第48-50页 |
| 3.4 本章小结 | 第50-51页 |
| 第四章 光子晶体三模式模分复用/解复用器的设计 | 第51-70页 |
| 4.1 模分复用/解复用器的理论模型 | 第51-53页 |
| 4.2 光子晶体模分复用/解复用器的结构设计及性能分析 | 第53-58页 |
| 4.2.1 主波导含有介质柱型模分复用/解复用器 | 第53-55页 |
| 4.2.2 主波导不含介质柱型模分复用/解复用器 | 第55-58页 |
| 4.3 光子晶体模分复用/解复用器的性能分析 | 第58-69页 |
| 4.3.1 主波导含有介质柱型模分复用/解复用器性能指标 | 第59-63页 |
| 4.3.2 主波导不含介质柱型模分复用/解复用器性能指标 | 第63-68页 |
| 4.3.3 两种模分复用/解复用器性能对比 | 第68-69页 |
| 4.4 本章小结 | 第69-70页 |
| 第五章 工艺误差对三模式模分复用/解复用器的性能影响 | 第70-78页 |
| 5.1 光子晶体制备工艺 | 第70页 |
| 5.2 工艺误差对三模式模分复用/解复用器的性能影响 | 第70-77页 |
| 5.2.1 波导宽度变化对器件性能影响 | 第72-73页 |
| 5.2.2 介质柱半径变化对器件性能影响 | 第73-75页 |
| 5.2.3 介质柱位置变化对器件性能影响 | 第75-77页 |
| 5.3 本章小结 | 第77-78页 |
| 第六章 总结与展望 | 第78-81页 |
| 6.1 工作总结 | 第78-79页 |
| 6.2 展望 | 第79-81页 |
| 参考文献 | 第81-84页 |
| 附录1 攻读硕士学位期间撰写的论文 | 第84-85页 |
| 附录2 攻读硕士学位期间申请的专利 | 第85-86页 |
| 附录3 攻读硕士学位期间参加的科研项目 | 第86-87页 |
| 致谢 | 第87页 |
